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AFM(Molecular Recognition AFM)
특정한 리간드가 붙은 침사용
나.특 징
원자힘 현미경의 수직방향 분해능은 수평방향보다 좋아서 원자지름의 수십분의일(0.1nm)까지도 측정해낼수있다.
다.용 도
반도체의 표면계측,defect 분석, 콤팩트디스크,자기디스크
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SEM과 TEM의 경우에는 contrast를 올려야하는 사전 처리가 필요하지만 AFM은 사전처리가 필요 없어서 sample을 보호하며 직접 측정할 수 있다는 장점이 있다.
4. 결론
광학 현미경은 미시 구조를 분석하는 데에 한계가 있지만 간단하며, 전자 현미경
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2. 나노 입자의 분석
2.1 SEM & TEM
2.2 AFM (Atomic Force Microscopy)
2.3 STM/STS (Scanning tunneling microscopy)
2.4 NSOM (Near-Field Scanning Optical Microscopy)
2.5 Piezoelectric Microbalance
2.6 Differential Mobility Analyzer
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AFM/SPM, DIP PEN NANOLITHOGRAPHY, CANTILEVER ARRAYS SENSING
③주소 : 서울시 송파구 문정동 289 가든파이브 웍스 C동 505호
④주요 제품 사진
N8 RADOS
N8 ARGOS
N8 NEOS
7. 대덕이미지
①홈페이지 주소 : www.daedukimage.co.kr
②주요 제품 및 적용 분야 : Leica, Mini-SEM, X-Ray, X
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이르기까지 종래 보다 더 작은 단위로 측정하려는 모든 곳에 활용되고 있다. 산업용으로는 반도체의 표면 계측, defect 분석, 콤팩트 디스크, 자기 디스크나 광 자기 디스크 등에 쓰인 비트(bit)의 모양새 조사 등에 쓰이고 있으며 최근 큰 성장을
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□ 실험목적
□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● 전자현미경의 발전역사
● 기본 원리
● TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사
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AFM이 유리하다. 게다가, AFM은 사용전압과 Tip과 접착 기면(substrate)의 거리가 제어 될 수 있는 장점을 제공한다. 독립적으로, 그런 까닭에 STM으로 두 변수는 완전하게 연결된다.
2) AFM 대 SEM
Scanning Electron Microscope에 비교해서, AFM은 높이 측정과
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AFM, Atomic Force Microscope)
1.3. 전자 현미경
1.4. 전자현미경의 관찰과 응용 범위
1.5. 고분자소재의 특성과 전자현미경
1.6. 전자현미경을 위한 기본용어 해설
2. Scanning Electron Microscopy(SEM)
2.1. SEM의 기본 원리
2.2. SEM의 특징
2.3. SEM의 용도와 비
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AFM 장점
SEM 보다 더 정확하고 직접 높이를 측정하며 코팅과정이 필요 없음.
TEM 에 비해 시편 준비가 쉽다.
air, liquid 상태에서 샘플 측정 가능.
5. NSOM ( Near-field Scanning Optical Microscope )
NSOM은 Near-field Scanning Optical Microscope의 약자로 Tip 끝의 약 50nm
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주사전자현미경
S E M
SEM 이론
SESSION 01
SESSION 01
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주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)란
≪ 그 림 ≫
집속된 전자빔을 시료표면에
주사하면서 전자빔과 시료와의
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