|
광전자 분광법을 이용한 고체의 전자구조 연구, 한국물리학회, 2010
김선태, 원자 분광법을 이용한 시료 전처리, 자유아카데미, 2004
대한화학회, 표준 일반화학실험, 2000
조남욱 외 4명, 적외선분광법을 이용한 내화피복재 일치성 평가방법 연구
|
- 페이지 7페이지
- 가격 6,500원
- 등록일 2013.07.18
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
광전자
흡수 분광법(absorption spectroscopy)
용액 중의 물질이 빛을 흡수하는 것을 이용.
농도가 높을수록 흡수되는 빛의 양은 많기 때문에 광도계를 사용하여, 용액을 투과한 빛의 양을 측정하여, 정량분석.
물질에 따라 흡수하는 빛의
|
- 페이지 29페이지
- 가격 500원
- 등록일 2015.10.10
- 파일종류 피피티(ppt)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분광법의 하나로 금속, 촉매, 반도체 소자 재료, 세라믹스, 박막, 고분자 피막 등의 연구에 널리 이용되면서 새로운 연구분야로 각광받고 있습니다다. 이 분석법은 최초에는 X-선을 이용한 광전자 분광법이므로 그 측정 원리에 근거하여 X-선
|
- 페이지 10페이지
- 가격 1,500원
- 등록일 2010.05.06
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
법을 질량분석법이라고 부른다.
이 밖에도 원자 흡수 분광법(AAS), X-선 회절 분석법(XRD), 유기 원소 분석법(EOA), X-선 광전자 분광법(XPS, ESCA), 오제이 전자 분광법(AES/SAM), 입도 분석법(particle size analysis) 등의 많은 분석법이 존재한다. [일반화
|
- 페이지 4페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2013.09.29
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
2차 전자들이 방출된다. 그 중 전자들의 에너지가 항상 에서
7.570.03eV에 위치하도록 표면의 일함수를 조정하고 시료표면과 에너지 분석기의 를 일치시킨다. (에너지 검증)
(4) 에너지 분석 장치
에너지 분석 장치에는
평면 거울형, 원통형, 127
|
- 페이지 4페이지
- 가격 800원
- 등록일 2015.08.07
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|