|
AFM의 시료형상인 오름쪽 그림에서는 NC-AFM으로 찍은 왼쪽사진에서는 볼 수 없었던 탐침이 시료를 긁은 자리를 볼 수 있다.
Damage
<그림 12. IC-AFM의 시료형상 (오른쪽), NC-AFM의 시료형상 (왼쪽)>
5. Tapping AFM
탭핑 AFM는 보통 20nm에서 100nm의 진폭
|
|
|
AFM의 시료형상인 오름쪽 그림에서는 NC-AFM으로 찍은 왼쪽사진에서는 볼 수 없었던 탐침이 시료를 긁은 자리를 볼 수 있다.
Damage
<그림 12. IC-AFM의 시료형상 (오른쪽), NC-AFM의 시료형상 (왼쪽)>
5. Tapping AFM
탭핑 AFM는 보통 20nm에서 100nm의 진폭
|
|
|
보여줌.
-. 분해능은 원자단위의 배열까지 보여줄 정도이며, 전류를 측정하므로 도체나 반도체의 표면에만 측정이 가능함.(단점) 1.STM의 원리 및 분류
2.AFM의 작동원리
2-1 Contact mode
2-2 Non-Contact mode AFM
2-3 Tapping mode AFM
3실험결과
|
|
|
현미경(Confocal Laser Scanning Microscope), 전반사(Total Internal Reflection : TIRF)형광현미경, Raman 분광법 등을 조합하여 다양한 AFM을 사용하고 있습니다. 1. What is the AFM??
2. AFM 구조 및 원리
-contact mode
-noncontact mode
-tapping mode
3. 사진 분석요령
|
|
|
AFM은 사전처리가 필요 없어서 sample을 보호하며 직접 측정할 수 있다는 장점이 있다.
4. 결론
광학 현미경은 미시 구조를 분석하는 데에 한계가 있지만 간단하며, 전자 현미경은 미시 구조 분석이 가능하지만 시료 준비에 어려움이 있다. 이처
|
|
메뉴펼치기
