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STM(scanning tunneling microscope)
• AFM(atomic force microscope) The tools for atoms and molecules
SEM(scanning electron microscope)
FESEM(field emission scanning electron microscope)
TEM(transmission electron microscope)
STM(scanning tunneling microscope)
AFM(atomic forc
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나노, 분석, 장비’ 사용
- 2분 소요
- 나노 재료 구조 분석 사진
출처: http://www.physics.nus.edu.sg
http://www.techcomp.com.hk
http://www.pnl.gov/
http://www.voyle.net
실리콘 카바이드(SiC) 나노꽃
나노스케일로 제작된 Solar Cell SEM사진
8개의 CdTe 분자의 AFM 이
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나노 테크놀로지/주승기/서울대학교 출판부/2002
참고 사이트 -http://www.tecsco.net/spm/spm.asp 1. SPM의 역사
2. SPM의 필요배경
3. SPM (Scanning Probe MicroScope)의 의미와 원리
4. STM (Scanning Tunneling MicroScope)
5. AFM(Atomic Force MicroScope)
6. SPM의 종류
7. 타
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나노복합절연체 박막소재
2-7-2.박막화 기술
2-8.나노복합 절연체 제작 공정 및 유기물 절연체 형성
2-8-1. pentacene 반도체 층 증착
2-8-2. Al source-drain 전극 증착
2-8-3. 표면처리
2-8-4.전기 도금된 Ni의 표면조도
2-8-5.나노입자에 따른mobility
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나노기술의 개발 방향-
나노기술은 두 방향에서 개발이 모색되고 있다. 첫번째 접근방법은 주사 터널링 현미경(STM)이나 원자력 현미경(AFM)으로 물질 표면의 분자 또는 원자를 조종하는 기술이다. 1990년 미국 ABM사의 원자를 배열하여 5나노 미
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