Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)
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소개글

Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1.실험제목

2.실험일시

3.실험목적

4.실험기구

5.이론

6.실험방법

본문내용

상을 망원경으로 관측한다. 그러기 위해서 우선 망원경의 촛점을 자와 거울과의 거리 L의 2배 되는 곳에 맞추어 놓고 자를 밝게 비추어 거울과 망원경의 각도를 잘 조절하여 자가 망원경을 통해 시야에 들어오게 한다■이 부분이 될거 같다. 얇은판의 두께 측정 때처럼 자가 망원경의 시야에 들어오게 해야 되는데 한번의 경험이 있으므로 그리 어렵게 보이지 않다.

키워드

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  • 등록일2004.04.13
  • 저작시기2004.04
  • 파일형식한글(hwp)
  • 자료번호#246537
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