목차
1. XRF(X선 형광 분석기)
1) 작동 원리
2) 장치
2. ICP(유도결합 플라스마 발광 광도법)
1) 원리 및 적용범위
3. AAS(원자흡광광도기)
1. 원리 및 적용범위
1) 작동 원리
2) 장치
2. ICP(유도결합 플라스마 발광 광도법)
1) 원리 및 적용범위
3. AAS(원자흡광광도기)
1. 원리 및 적용범위
본문내용
륨(K), 칼슘(Ca), 루비듐(Rb), 세슘(Cs), 카드뮴(Cd), 수은(Hg), 탈륨(Tl)과 같이 비점이 낮은 원소에서는 열음극이나 방전램프를 사용할 수도 있다.
ㄴ) 시료원자화부
시료원자화부는 시료를 원자증기화하기 위한 시료원자화 장치와 원자증기 중에 빛을 투과시키기 위한 광학계로 되어 있다.
ㄷ) 분광기(파장선택부)
분광기로서는 광원램프에서 방사되는 휘선 스펙트럼 중 필요한 분석선 만을 다른 근접선이나 바탕으로부터 분리해 내기에 충분한 분해능을 갖는 것이어야 한다.
또한 동시에 양호한 SN비로 광전측광을 할 수 있는 밝기를 가질 것이 요망된다.
근접선이나 바탕의 상태는 사용하는 광원램프에 따라 다르기 때문에 목적 원소에 따라 슬릿의 폭을 바꾸어 목적하는 분석선 만을 선택해내야 할 필요가 있다.
ㄹ) 측광부
측광부는 원자화된 시료에 의하여 흡수된 빛의 흡수강도를 측정하는 것으로서 검출기, 증폭기 및 지시계기로 구성된다.
검출기로부터 출력전류를 측정하는 방식에는 직류방식과 교류방식이 있다. 직류방식은 광원을 직류로 동작시키는 경우에 사용되며 교류방식은 광원을 교류로 동작시키는 경우나 광원을 직류로 동작시키고 광단속기로 단속시키는 경우에 이용된다.
ㄴ) 시료원자화부
시료원자화부는 시료를 원자증기화하기 위한 시료원자화 장치와 원자증기 중에 빛을 투과시키기 위한 광학계로 되어 있다.
ㄷ) 분광기(파장선택부)
분광기로서는 광원램프에서 방사되는 휘선 스펙트럼 중 필요한 분석선 만을 다른 근접선이나 바탕으로부터 분리해 내기에 충분한 분해능을 갖는 것이어야 한다.
또한 동시에 양호한 SN비로 광전측광을 할 수 있는 밝기를 가질 것이 요망된다.
근접선이나 바탕의 상태는 사용하는 광원램프에 따라 다르기 때문에 목적 원소에 따라 슬릿의 폭을 바꾸어 목적하는 분석선 만을 선택해내야 할 필요가 있다.
ㄹ) 측광부
측광부는 원자화된 시료에 의하여 흡수된 빛의 흡수강도를 측정하는 것으로서 검출기, 증폭기 및 지시계기로 구성된다.
검출기로부터 출력전류를 측정하는 방식에는 직류방식과 교류방식이 있다. 직류방식은 광원을 직류로 동작시키는 경우에 사용되며 교류방식은 광원을 교류로 동작시키는 경우나 광원을 직류로 동작시키고 광단속기로 단속시키는 경우에 이용된다.
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