현미경의 구조와 사용방법 종류

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현미경의 구조와 사용방법 종류에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. 현미경의 기원
1) 현미경의 역사
2) 현미경의 용도

2. 현미경 사용법
1) 현미경의 구조
2) 현미경 각부위별 설명
3) 사용방법
4) 주의 사항
5) 초점을 맞추기 힘들때 간단하게 맞추는 방법

3. 현미경의 종류
1) 실체현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
2) 위상차 현미경 (位相差顯微鏡, phase-contrast microscope )
3) 간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
4) 주사형 현미경(Scanning Probe Microscope)
5) TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
6) 편광현미경(polarization microscope,偏光顯微鏡)
7) 자외선현미경 ( 紫外線顯微鏡, ultraviolet microscope )
8) 생물 현미경 (生物顯微鏡,Biological microscope )

4. 예전의 현미경
1) 1600년대
2) 1700년대
3) 1800년대

본문내용

사용해 도 무방하다
ⓙ 대물렌즈의 촛점이 맞지 않은 상태에서 대물렌즈를 고배율로 돌리면 대물렌즈가 스테이 지에 부딪칠 염려가 있으므로 조심해야 한다. 가령 WD (작동거리:Working Distance)가 긴 대물렌즈의 경우 큰 상관이 없으나 WD가 짧은 대물렌즈의 경우 부딪힐 가능성이 아 주 높으므로 초보자가 현미경을 다룰때 가장 조심해야 하는 부분이다. 렌즈는 대게 코팅 막이 씌워져 있으므로 코팅막이 벗겨질 경우 렌즈의 성능이 급속히 나빠지며 상도 뚜렷 하게 관찰할수 없다.
5) 초점을 맞추기 힘들때 간단하게 맞추는 방법
초보자의 경우 저배율에서 스테이지를 위아래로 아무리 움직여도 촛점을 맞추기 힘들때가 있는데 이때에는 우선 반사경을 조절하여 시야가 제대로 확보 되어있는지 확인하고 시야 를 확보한후 가장 배율이 높은 대물렌즈를 시료와 최대한 가깝게 놓고 다시 저배율의 대 물렌즈로 돌려놓는다. 그 다음 저배율 렌즈에서 스테이지를 조금씩 내려가면서 시료를 찾 아가면 쉽게 찾을수 있다.
ⓐ 실물과 현미경의 시야에 나타나는 상은 사용하는 현미경에 따라 다르다.
ⓑ 일반적으로 상하 좌우가 바뀌어 나타나므로 프레파라트를 왼쪽으로 움직이면 물체의 상 이 오른쪽으로 이동한다.
ⓒ 한 눈은 현미경의 상을 관찰하고 다른 눈은 관찰한 상을 그리는 데 이용한다
3. 현미경의 종류
1) 실체현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
육안으로 가까운 곳에 있는 물체를 볼 때에는 두 눈이 틀린 각도로 보기 때문에 입체감을 얻을 수가 있다. 보통 현미경에서는 두 눈의 접안렌즈를 사용해도 대물렌즈로부터의 광축(光軸)이 하나이기 때문에 입체감을 얻을 수 없다.
그러나 실체현미경에서는 광축 사이에 약 15°로 벌어진 2개의 광속(光束)에 의해 정립(正立)한 확대상을 만들고, 이것을 각각의 눈으로 봄으로써 입체감을 얻을 수 있다. 배율은 통상 10～30배이며, 경통 중간 부분에 optical zoom lens를 장착하여 배율을 연속적으로 바꿀 수 있는 것이 있는데 이를 Stereoscopic Zoom Microscopy라고 분리하여 부르기도 한다. 실체현미경을 해부현미경이라고 부르기도 하는데 이는 저배율에서 표본을 관찰하면서 해부하기 때문이다.
또한 저배율에서 표본의 전체를 보면서 해부해야 하기 때문에 상이 뒤집힐 경우 불편하므로 일반적으로 상이 뒤집히지 않고 정상으로 보인다.
2) 위상차 현미경 (位相差顯微鏡, phase-contrast microscope )
위상차 현미경은 재료를 고정하거나 염색하지 않고도 재료의 명암이 뚜렷이 나타나 살아 있는 세포를 직접 관찰할 수 있다. 해부 현미경은 배율은 낮으나 상이 거꾸로 보이지 않아 작은 생물들을 해부할 때 사용된다. 보통 광학현미경의 배율은 접안렌즈 배율에 대물렌즈 배율을 곱한 값으로 구한다.
가시광선 대신에 전자선을 사용하는 전자현미경에는 세포의 단면을 관찰하기에 좋은 투사 전자현미경과 세포의 입체를 관찰하기에 좋은 주사 전자현미경 두 가지가 있다. 투사 전자현미경은 렌즈 대신에 자석 렌즈를 사용하고, 재료를 촬영하여 사진으로 본다.
1935년 네덜란드의 F 제르니케(Zernike, Frits )에 의해서 발명되어 1953년 노벨 물리학상을 받았다.
3) 간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으로 투명한 표본에서도 그 구조가 뚜렷이 나타나게하는 원리를 이용, 물체의 미세구조나 요철의 변화, 위상변화등을 관찰하여 정량측정을 하는 현미경이다.
4) 주사형 현미경(Scanning Probe Microscope)
주사 전자현미경은 재료에 주사된 전자선이 재료의 요철(굴곡)에 따라 변화하는 것을 검출기로 감지하여 브라운관에 상을 만들어 입체적인 모습을 관찰할 수 있다. 투사 전자현미경은 전자선을 발사하여 매우 얇은 조직절편을 투과시킴으로써 상을 형광 스크린에 형성한다.
상에서 특정 부위의 밝기는 표본을 투과하는 전자의 수에 비례한다. 주사 전자현미경은 2-3㎚ 길이의 전자조명을 사용하여 표본 표면을 주사하여 표본으로부터 전자 충격에 의한 2차 전자를 발생시켜서, 센서로 받아들여 관찰할 수 있도록 한다.
SPM(Scanning Probe Microscope)은 1982년에 IBM. Zurich 연구소의 G.Binning, H.Roher에 의해 발명 (1986년의 노벨물리학상수상) 됐던 STM(Scanning Tunneling Microscope)의 원리로부터 탄생되었다. 미세한 탐침(Probe)를 시료표면에 주사 (Scanning)하여 시료표면의 미세한 구조를 관찰할 수 있는 장비이다. STM은 시료와 탐침간에 흐르는 전류 (Tunnel 전류)를 검출하여 표면 구조를 관찰한다. STM의 발명후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력현미경이 발명되었다 (AFM: Atomic Force Microscope). 그후 시료탐침간의 다양한 상호작용 (마찰력, 전위, 근접장광, 자기력등)을 검출하여 표면구조를 관찰하는 FFM, SMM, SNOAM, MFM...등이 개발되었다.
이들을 총칭하여 주사형 Probe현미경 (SPM)이라고 한다.
AFM은 그중에서 가장 널리 보급되어져 있는 SPM이며 AFM을 기반으로한 새로운 형태의 SPM이 지속적으로 연구, 개발되어 실용화되고 있다. SPM은 대기, 용액, 진공등의 다양한 실험 환경에서 뿐만 아니라 도전성, 절연성등 관계없이 시료표면의 구조를 관찰할수 있다.
SPM은 다양한 환경에서 미소삼차원형상이나 여러가지 물리량 분포를 관찰할수 있는 특징이 있어 다양한 시료에 폭넓게 이용되는 장비이다.
5) TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
광학현미경의 광원 대신에 광원과 유사한 성질을 지닌 전자선과 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. 전자선은 광선과 비교하면 물질과의 상호작용이 현저하게 크기 때문에 시료는 아주

키워드

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