[결과]실험8. 논리회로의 간소화

목차

실험 주제
실험에 사용된 부품
실험 회로도
데이터 및 관찰내용
심층 탐구 실험 결과
결과 및 결론
비고 및 고찰
평가 및 복습 문제

본문내용

1
0100
0
0101
0
0110
1
0111
0
1000
0
1001
1
1010
X
1011
X
1100
X
1101
X
1110
X
1111
X
BA
DC
00
01
11
10
00
0
0
1
0
01
0
0
0
1
11
X
X
X
X
10
0
1
X
X
그림 8-6 3으로 나누어 떨어지는 BCD수에 대한 Karnaugh맵
맵으로부터 읽은 최소 SOP : X=AD+ABC+ABC
AD
ABC
ABC
회로도
표 8-5의 실험결과
3 = 0011(2)
6 = 0110(2)
9 = 1001(2)
0 = 0000(2)
1 = 0001(2)
결과 및 결론 :
그림 8-5의 회로에서 OR게이트를 NAND게이트로 바꿔서 회로를 구성한 결과
무효 BCD-코드 감지기에 대한 진리표와 이론이 일치함
그림 8-4의 Karnaugh 맵을 작성한 결과
SOP 식을 얻는데 편리하고 손 쉽게 얻을 수 있었으며 그 식이 일치함
그림 8-6의 Karnaugh 맵을 작성하고 그걸로 얻은 SOP 식으로 3으로 나누어 떨어지는 BCD수를 구하는 회로를 구성한 결과
표 8-5의 실험결과로 확인 할 수 있듯이 3, 6, 9 일 때 LED가 꺼지는 것을 보일 수 있음
비고 및 고찰 :
이번 실험은 무효 BCD-코드 감지기에 대한 진리표를 작성하고 Karnaugh맵을 이용하여 표현식을 간소화하여 회로를 간단하게 구성하는 실험이었다.
Karnaugh맵을 이용하면 복잡하게 보이는 회로도 간소화하여 좀더 간단한 등가의 회로로 표현할 수 있다. 실험을 하는데 필요한 이론이 어려운 내용이 아니라 만들어진 법칙에 따라 적용하기만 하면 되는 것이라서 실험은 어렵지 않았다. 그럼에도 불구하고 무효 BCD-코드 감지기 회로가 제대로 작동하도록 만드는 데에 여러번의 시도가 필요했는데 이는 회로를 브레드보드에 구성할 때 소자들을 너무 가깝게 배치하고 리드선도 가까이 붙어있는 소자들에 가까이 붙여 회로를 구성했기에 브레드보드 내부에서 합선이 일어나거나 소자들의 고장으로 인해 회로가 제대로 작동하지 않았기 때문이다. 한 번은 NAND 게이트의 GND와 VCC를 서로 반대로 연결하여 소자를 고장내기도 했다. 아직 실험을 익숙할정도로 많이 해보지 않았지만 매번 실험할 때 마다 사소한 실수로 인해 회로 전체가 올바로 작동하지 않게 되어버린다. 앞으로 실험을 할 때 좀 더 신중히 회로를 구성하도록 해야겠다는 것을 느꼈다.
평가 및 복습 문제 :
2. NOR 게이트만을 사용하여 그림 8-5와 등가인 회로를 그려라.
4. 그림 8-7의 회로에는 X로 표기된 출력이 있다. X에 대한 표현식을 쓰고, 드모르간의 정리를 사용하여 X에 대한 표현식을 구하라.
B·D + C·D = X
X = D·(B·C)
X = D·(B·C) = D + B·C
5. 실험순서 2의 무효 코드 감지기에 대한 SOP 형태의 표현식을 POS(product of sums)형태로 변환하라.
D(B+C)
6. NAND 게이트를 사용하여, 실험순서 2에서 구한 표현식으로부터 무효 코드 감지기를 구현하는 회로를 그려라.

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예비,   결과,   레포트,   전기,   전자,   기초실험,   디지털공학실험,   논리회로의 간소화