반도체 신뢰성 테스트 (Reliability)

소개글

반도체 신뢰성 테스트 (Reliability)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

신뢰성 Test의 목적.
신뢰성 시험 종류

본문내용

신뢰성 Test의 목적.
반도체의 정해진 기간 동안 의도한 기능을 만족하는지 미리 확인.
신뢰도가 나쁜 제품을 미리 선별하여 제거.
신뢰도가 좋은 제품은 비싼 가격에 판매 가능.

신뢰성 시험 종류
-. 단기 신뢰성 검사(Shot-term Reliability Test)
Called : MRT(Moisture Resistance Test) or MSL(Moisture Sensitivity Level) or Preconditioning
-. 장기 신뢰성 검사(Long-term Reliability Test)
TC(Temperature Cycling), HAST(Highly Accelerated Stress Test), HTS(High Temperature Storage).

Precon Test 불량의 원인
반도체가 흡수한 수분 ( 액체 -> 기체 : 부피 팽창 1974배)
반도체 재료 사이의 열팽창률 차이.
서로 다른 재료 사이의 접착력 부족.
동일 재료 내부의 응집력 부족.

열충격 시험 (T/C)
Temperature Cycling Test

고온 보관 시험(HTS)
High Temp. Storage Test

항온 항습 시험(T&H)
Temperature & Humidity Test

가속 온습도 수명 시험 (HAST)
Highly Accelerated Temperature & Humidity Stress Test

키워드

신뢰성,   Reliability,   TC,   HTS,   HAST,   precon