방사선 선량측정 장비 종류와 검사법

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목차

방사선 선량측정 장비종류와 검사법


1.방사선 검출기
(1)기체 전리를 이용한 검출기(Gas detector)
(2)발광을 이용한 검출기(Scintillation detector)
(3)고체의 이온화를 이용한 검출기(Solid state detector)
(4)개인 피폭선량 검출기(Personal exposure detector)

2.화학선량계(Chemical dosimeter)
(1)철 선량계
(2)세륨 선량계

3.중성자 측정(Neutron dosimetry)

※참고문헌

본문내용

지 않지만 치수에 제한이 없어 얼마든지 큰 것을 만들 수 있다. 납이나 주석을 첨가한 것은 상당한 광전 피크를 보인다. 투명도가 낮아 에너지 분해능은 양호하지 못하고, 무기섬광체보다 형광 감약시간이 짧다.
플라스틱 섬광체
-원자번호가 낮기 때문에 γ선에는 적합하지 않고 α, β선 측정용이며 형광 감약시간도 짧아 분해능도 높다. 가공이 용이해 대용적의 것을 만들 수 있어 human counter에 사용하고 γ선을 검출할 수 있지만 에너지의 판별은 어렵다. α, β선 스펙트럼 및 계수와 중성자의 측정에 이용된다.
액체 섬광체
-저에너지 β, γ선 측정에 적합하고 toluene xylene 등의 용매에 terphenyl, PPO 등을 제1용질로 사용하고 제2용질로는 POPOP를 용해시켜 사용하고 1용질의 형광 파장과 PM tube의 수광감도를 맞추기 위해 형광 파장 쪽으로 이동시키는 작용을 하는데 파장 변환체라고도 한다.
(3)고체의 이온화를 이용한 검출기(Solid state detector)
①반도체 검출기(Semiconductor detector)
반도체 검출기의 특징
ㆍ에너지 분해능이 매우 높다.
ㆍ검출기의 종류에 따라 α, β, γ선을 측정할 수 있다.
ㆍ에너지의 대한 비례성에 좋다.
ㆍ검출부가 소형이다.
ㆍ액체질소에 냉각시켜야한다.
ㆍ저장 운반하기가 불편한다.
-현재 X선 검출 측정에 사용되고있으며 실리콘, 게르마늄 단결정으로 되어 있으며,
SSD(solid state detector)라고도 한다. 다른 검출기보다 에너지 분해능이 높고, W값이 작은 사실에 유래하고 실리콘이나 게르마늄 결정중에 한 쌍의 전자와 정공을 만드는 에너지는 약 3eV이며 기체의 W값이나 신틸레이터의 W값보다 약 1자리수 작다.
-200eVwjd도의 연X선으로부터 수 MeV의 γ선까지 넓은 범위의 광자 측정에 쓰여지고 형광 X선 원소 분석까지 사용되고 있다.
-기체의이 이온화 에너지는 15eV 정도로 높아 X선 입사되지 않을 때 전리조 중에 캐리어는 거의 없고 금지대폭이 좁은 반도체 검추기에서는 상온에서 다수의 열 캐리어가 존재하고 노설전류를 발생시켜 액체 질소로 검출기와 프리 앰프 초단(FET전계효과 트랜지스터)를 냉가시키지 않으면 고성능을 얻을 수 없다.
반도체 검출기의 종류와 구조
형
구조
공핍층의 두께
비고
확산 pn접합형
n -p
p -n
<5
Si
Si β선 측정에 적합
표면 장벽형
p-n
<5
제조가 용이, 열처리를 하

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