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함수발생기에서 보내주는 전압이 자꾸 변하여서 오차가 발생하였을 것이고 실험장비 내의 내부 오차도 또한 원인이 될 수 있을 것이며 또한 실험장비의 사용미숙도 오차의 원인으로 보여진다.
7. 참 고 자 료
- 기초공학실험 한국해양대학교 &
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함수발생기 주파수 카운터 기능/외부신호 주파수 카운터
• RANGE(Hz) : 주파수 범위 선택, 8번의 주파수 조정다이알의 값과 곱해져 주파수 지령 만듬
• FUNCTION : 정현파, 삼각파, 구형파(SQUARE WAVE) 출력 선택
• ATT(Attenuator) : 출력 레
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함수발생기 주파수 카운터 기능/외부신호 주파수
카운터
3. RANGE(Hz) : 주파수 범위 선택, 8번의 주파수 조정 다이알의 값과 곱해
져 주파수 지령 만듬
4. FUNCTION : 정현파, 삼각파, 구형파(SQUARE WAVE) 출력 선택
5. ATT(Attenuator) : 출력 레벨을 -20dB 만큼
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함수를 구하시오.
G(s) =
5.2 그림의 실험회로에서 폐루프 전달함수를 구하시오.
G(s) =
5.3 P제어기의 이득을 1, 10, 50, 100으로 했을 경우 입력 파형과 출력파형을 오실로스코프로 관측하시오. 이때, 함수발생기의 출력전압은 구형파 1, 100Hz로 조정
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발생기에서 약 1 kHz, 0.5 V의 정현파를 발생시키고 오실로스코프로 확인한 후
표 2를 작성한다.
⑥Amplitude, offset, symmetry, Function 등을 선택 또는 돌리면서 두 파형의 변화를 확인한다.
5-3. 전압 측정
①오실로스코프의 표준출력단자에 프로브를
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정현파와 삼각파, 구형파로 파형변화를 할 때, 정확히 10 V로 맞춘것이아니라 정현파에서 고정시켰던 값으로 실험하였기 때문인 것으로 추측되어진다.
참고문헌
신회로이론 : 박송배 저 : 문운당
일반전자공학실험 : 김태중 저 : 상학당
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▲ 시상수
▲ R-L 회로에서 R에 비하여 L이 클수록 시정수가 커지며, 지수적 변화가 서서히 일어난다. 이것은 전류에 대한 L의 관성에 기인한다.
참고문헌
신회로이론 : 박송배 저 : 문운당
일반전자공학실험 : 김태중 저 : 상학당
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공학실험/강의록
(2) 계측및신호처리/강의록
(2) 소리/두산백과/http://terms.naver.com/entry.n
hn?docId=1113785&cid=40942&categoryId=32237
(3) 소음계/두산백과/http://terms.naver.com/entry.
nhn?docId=1114085&cid=40942&categoryId=32335 1. 실험 목적
2. 관련 이론
3. 실험 장치
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와 이미터 사이의 전압 값이 약간 차이가 나기 때문이다.
(3) 온도에 따른 입력 오프셋 전압 드리프트
입력 오프셋 전압 드리프트는 온도가 1℃ 변함에 따라 오프셋 전아바이 변화하는 정도를 나타낸 값이다. 대부분 0.02μV/℃를 가지고 성능이
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generator를 사용해도 vo에서 square wave가 나온다. 두 번째 op amp단자는 입력이 +면 +로 saturation 된 값을, 입력이 -면 -로 saturation된 값을 내보내기 때문이다. 일정한 주기를 가지고 +, - 값을 반복해서 가지는 회로를 앞에 달 경우 전체회로는 square wave
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