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실험은 회로에서 주파수, 인덕터, 캐패시터의 값을 변화 시켜가며 파형의 변화를 관찰하는 시간이었습니다. 그 결과로 인덕터는 회로에서 전압을 지연시키고, 커패시터는 회로에서의 전압이 앞서게 되게 하고, 저항은 주파수에 영향을 받지
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속도의 변환이 요구 되는 시스템에 주로 사용된다. 영상이나 레이더의 같은 경우에는 빠른 데이터 처리를 필요로 하기 때문에 이러한 D/A 변환기의 쓰임이 더욱더 중요하게 된다. 실험목적
실험준비물
예비과제
실험
설계 및 고찰
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회로는 MOD-10카운터로 동작한다. 또한 처음 플립플롭의 입력 클럭 값이 각각의 CLK로 들어가는 것이 아니라 처음 플립플롭의 결과 값이 다음 플립플롭의 CLK로 들어가는 것이기 때문에 비동기식이다.
(8) 실험 2의 회로를 변경하여 Mod-8의 회로를
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을 구할 수 있었습니다.
세 번째 실험에서는 <그림 7.17>과 같이 회로를 구성한 후 저항 값을 점점 증가시켰을 때의 전류 값과 전압 값을 알아보는 실험이었습니다. 이때 이라는 식에서 의 값이 점차 증가하여 무한대에 가까울 때 전압원의
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이 다음 플립플롭의 입력으로 연결되어있어서 클락을 주면 우측으로 쉬프트 되는 구조입니다. 실험 시작 후 4clock 후에 출력 A에 1이 입력되어 A->B->C->D->A 순으로 1만 순환하게 됩니다.
⇒ 실험 (4)의 결과도 시간이 부족하여 회로를 구
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실험 결과에서 본 CMOS의 TTL interface의 원리를 설명하라.
⇒ 시스템에 interface을 한다는 것은 회로의 출력을 다른 전기적 특성을 갖는 시스템이나 회로의 입력에 연결하는 것을 말한다. CMOS와 TTL을 interface하여 사용하는 이유는 CMOS와 TTL은 서로
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실험이었습니다. D 플립플롭은 D 래치에 CLK (clock)이 있다는 것이라고 생각할 수 있습니다. 이 회로는 처음 D입력이 0일 때, 변화하는 CLK 값에 따라 달라지는 Q값을 관찰하고, D입력이 1일 경우에 대해서도 변화하는 결과 값을 고려하여 진리표를
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실험에 사용된 저항이 모두 1k으로 같은 값의 저항을 가지므로 비슷한 양의 전류가 흐르고, 전체 전류 는 이들의 합인 30에 가까운 값이 되는 것을 확인할 수 있었습니다.
네 번째 실험은 <그림 3.12>의 회로도처럼 직렬연결과 병렬연결이 모
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아니었을 것이고 (함수발생기가 더 정확한 값을 보여줍니다.), 각 Gate 자체의 저항도 영향을 미쳤을 것입니다. 이러한 오차를 발생시킬 수 있는 요인들을 생각한다면 실험결과는 모두 옳게 나왔다고 생각됩니다. 실험
설계 및 고찰
고찰
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회로 구성 외에도 특히 저항과 멀티미터를 직렬로 연결하는 것이 아직도 미숙한 것이 회로에는 문제가 없음에도 불구하고 측정하는 것에서 실수를 하게 되어 잘못된 곳을 측정하여 이상한 결과 값이 나오게 된 것 같습니다. 다음 실험에서는
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