|
실험 결과, 출력 X와 Y를 비교 설명하여라.
실험 결과 X와 Y의 출력은 동일하며, AND 게이트의 출력과 동일하게 나타남.
A = ((AB)')' = AB
B = (A'+B')' = AB
시뮬레이션
회로
결과 논리회로 실습보고서 - 불 대수와 드모르간의 정리
[1] 7400 IC 핀 배
|
|
|
실험을 하였다.
첫 번째 실험에서는 식을 간략화 하였는데, 부울대수의 정의에 의해 임을 알 수 있다.
이를 통해 입력값이 0,1,0인 경우와 0,1,1인 경우(A,B,C 순서) 주어진 논리식이 1임을 알 수 있고 실제 측정 결과 입력값인 5V에 근접한 3.9V부근
|
|
|
회로를 만들어 드모르간의 정리가 맞음을 확인하는 실험이라
결과 값이 예상이 쉬웠습니다. 하지만 지난번 실험들보다 회로자체가 좀 더 손이 많이 가고 예상했던 결과 값과 달리나와 회로에서 잘못된 점을 찾아내는데 시간이 오래 걸렸습니
|
|
|
회로의 한 단계
- 4개의 게이트와 하나의 멀티플렉서로 구성
- 각 게이트가 정해진 논리연산을 수행하고 이 결과들 중에서 하나를 멀티플렉서로 선택하여 최종 출력값 결정
- <그림 4-10(b)>
그림 4-10 논리회로의 한 단계
◎ 응용
- 논리연
|
|
|
실험5의 카르노도로 간략화한 논리식을 구하고, 이에 상응하는 논리적의 논리화 형태 (AND-OR)로 74LS08, 74LS32를 사용하여 그 논리회로를 구성한 뒤 표에 4변수 입력을 가한 때의 출력을 측정하여 해당란에 기입한다.
5. 참고문헌
Fundamentals of Digital
|
|
|
험이었다. 특히 이번 실험에서는 회로가 복잡하여 진리표대로 값이 나오질 않아 고생을 많이 한 실험이었다. 물론 속도 면에서는 실험 1,2장보다는 빠르게 진행할 수 있었지만, 한 번 회로가 잘못 구성되어지면 수정하는 데 골머리를 앓아야
|
|
|
실험순서
입력
논리레벨
(3번 핀)
출력
논리레벨
(4번 핀)
논리레벨
(5번 핀)
논리레벨
(6번 핀)
7
입력을 접지에
잠시 접촉한 경우
High
8
입력을 +5.0V에
잠시 접촉한 경우
Low
9
결함 조건 :
5번 핀 개방
Low
High
X
Low
10
결함 회로 전압
(디지털 멀티미터
|
|
|
회로에서 고장을 진단하고 고장의 원인을 알아보며 가장중요한 앞자리 0을 표기하지 않도록하는 방법을 알아보는게 목적인 실험이다.
우리는 책내용을 이해하고 실험을 하기위하여 미리 책을 읽어보고 실험을 시작을 하였지만
2장보다 3장
|
|
|
디지털 소자의 입출력에 방해를 준다.
그림 3.4 3-상태 TTL 인버터/버퍼
입력
출력
G
A
Y
1
0
1
1
1
0
0
X
Hi-z
입력
출력
G
A
Y
1
0
0
1
1
1
0
X
Hi-z
위와는 반대로 제어 입력 G가 입력이 부정 G로 되어 있을 때 G입력이 0일 때 정상동작이고, 1일 때 출력이 부정
|
|
|
-실험 결과 검토-
실험1의 목적은 디지털 멀티미터의 기본 원리, 사용법을 익히는 것이다. 디지털 멀티미터는 일반 멀티미터 보다 더 정확한 값을 보다 편하고 쉽게 측정 할 수 있다. 디지털 멀티미터를 사용 하면서 많이 했던 실수가 저항을
|
|
메뉴펼치기
