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실험하였는데, 이는 더 확장하여 n 진 카운터의 설계를 할 수 있게끔 된다는 사실을 알 수 있다. n 진 카운터는 n 번째 수가 왔을때, 어디에 1이 오느냐에 따라서 NAND gate를 사용해서 CLR를 시켜주면 된다.
논리회로실험
결과보고서
실험 9
Shift Regi
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비록 오차 발생으로 인한 아쉬움은 있지만 이론을 실험을 통하여 확인해 보는 계기가 되었다.
5. Reference
- “회로이론실험”, 이준신,윤석호,박기헌, 2009, 두양사, p29-32 1. 실험 주제 및 목적
2. 실험 결과
3. Discussion
4. Conclusion
5. Reference
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실험』, 도서출판 상학당, 2009, pp43-47.
AlexanderSadiku, 『Fundamentals of Electric circuits』4th, McGRAW.hill higher Education, 2009, p35. 1. 목적
2. 관련이론
2.1 회로의 접속점 표시
2.2 직병렬회로의 해석
3. 이론값
1. 직병렬회로 해석
2. 직병렬회로에서의
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회로에서 , , , PIV, , ％리플을 계산하여라.
3.2 아래의 회로에서 , , , PIV, , ％리플을 계산하여라.
4. 참고문헌
전자통신연구회 편, 『전자통신기초실험』, 도서출판 상학당, 2009, pp183-187. 1. 실험 결과
2. 검토사항
3. 연습문제
4. 참고문
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Vm / Rm 이므로,
V값을 유도하면,
V = Vm(1 + Rs / Rm)
즉, 전압계의 최대 측정 범위의 Vm의 (1+ Rs/Rm) 배의 전압까지 측정할 수 있으며,
여러 개의 Rs를 선택 사용함으로써 측정범위가 다른 몇 개의 전압계 구실을 한계의 전압계로 할 수 있다.
(계기의
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연결하고, RL에 흐르는 전류를 측정하여 표 1의 \"등가회로 IL\" 난에 기록하시오.
7) 부하저항 RL의 값을 표 1과 같이 바꾸어서, \"원래회로 IL\"과 \"등가회로 IL\"을 측정하여 비교하시오.
그림 5. Thevenin 등가 회로를 확인하는 실험회로. (a) 원래 회
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기초전기전자공학실험
→ 곽경석외 (주)교학사
기초회로실측에기초한전자전기실험
→ 홍순관 도서출판글러벌 직류전원 공급기의 사용법 보고서입니다.
Ⅰ. 목적
Ⅱ. 관계이론
Ⅲ. 실험방법
Ⅳ. 예상실험결과
Ⅴ. 참고문헌
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연결 후 합성 저항 측정
실제 병렬로 연결된 합성 저항의 값이 키르히호프의 전류 법칙에 의해 구하는 값과 같은지 실험을 통
해 알아본다. 1. 실험 장비
2. 실험 내용 및 방법
3. 실험 결과 및 data 분석
4. 실험에 대한 고찰
5. 참고 문헌
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결과를 보였다. Digital 오실로스코프를 사용하여 \'㎱\'단위의 시간을 측정할 수 있지만, 만약 Analog 오실로스코프를 사용시 정확한 \'㎱\'단위의 시간 측정이 어렵다.
< 실험 고찰 >
실험 2. CMOS 회로의 전기적 특성을 통하여 High-speed CMOS logic f
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실험을 진행하였는데, 멀티미터 내부의 저항 등의 요소로 인하여 약간의 오차는 발생하였지만, 예측값과 흡사한 성공적인 결과를 얻어 낼 수 있었다. 회로를 구성하는데에 있어 익숙치 않은탓에 약간 고전은 하였지만 조교님과 조원의 도움
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