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실험 목적
2. 실험 장치
3. 실험 이론
3.1 토크의 정의
3.2 스트레인 게이지를 이용한 토크의 측정 방법
3.2.1 원형봉의 비틀림 변형
3.2.1.1 응력과 변형률의 정의와 관계
3.2.1.2 원형봉의 응력분포
3.2.1.3 원형봉의 변형율 분포
3.2.2 스트레
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실험
스위치 bounce = 스위치와 같이 접점이 이어지는 부분에서 사용자가 스위치를 한번 눌렀을 뿐인데 MCU에서 여러 번 입력받는 현상을 말한다. 바운스현상 또는 채터링이라 한다. 전자 회로 내의 스위치나 계전기의 접점이 붙거나 떨어질 때
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전자공학회, 2006년, 111-123페이지)
6. 시뮬레이션
실험 책 page 117 에 그림 8.4
을 구하기 위한 회로 을 구하기 위한 회로 Lab 13. Advanced Uasge of Test Equipment
1. 실험목적
2. 이론
직류(DC: Direct Current)
교류(AC: Alternating Current)
교류 전압
실효
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전압이득을 변화시키는데 사용할 수 있는데 전압이득이 바뀌어서 계산방법이 틀려지기 때문이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010.
- 전자회로실험
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실험에 임하기 전 예비보고서를 다시 자세히 읽고 실험에 임한다면 좋은 결과 있을 것 같습니다.
5. 참고 문헌 및 출처
출처: 위키 백과 [http://ko.wikipedia.org/]
네이버 백과 사전 [http://100.naver.com/]
일반물리학실험 예비보고서
전자측정 연습
작성
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전압 허용 값은 중요한 체크 포인트이다. 본 실험에서 사용하는 다이오드는 역방향 전류를 생각하지 않기로 하자.
ⅲ) 저항기의 저항 읽기
ⅳ) 액체 저항
(1) 염화나트륨 (NaCl)
㉠ 염화나트륨의 이온결합
㉡ 물에 의한 소금의 용해
ⅴ
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실험에 비해 적었다 고 할 수 있는데 만일 현장에서 로드셀과 같은 전자장치의 오차가 발생하였다면 그 원인과 해결방법은 무엇이 있는지 알아보았다.
센서와 회로소자에서 발생하는 주요한 잡음에는 열잡음, 전압잡음, 접지 잡음이 있 다.
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인가전압을 지지하지 못하고 단락되어 대 전류가 흐르면서 변압기 권선이나 회로의 다른 부분이 손상된다.
즉 교류 전압을 사용함으로서 자화전류의 양을 조절함으로서 계속적인 전류변화를 주어 유도기전력을 발생 시키는 것이다.
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실험 4)의 다이오드의 선형화 모델표에는 필요한 와 가 주어져 있다. 지금 그 다이오드에 대한 전압 3V와 저항 300이 직렬로 연결된다. 표의 수치를 사용해서 1N914와 1N4004를 흐르는 전류를 계산하라.
1N914 : = 0.58V / = 24
1N4004 : = 0.57V / = 26
3) x-축
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회로학습을 위한 학습도구의 설계 및 구현, 경남대학교, 2004
최훈규 외 3명, 게이트 레벨 논리 검증 시스템, 대한전자공학회, 1987 Ⅰ. 논리게이트의 개요
1. 기본적인 논리게이트
2. 응용한 게이트
1) 논리곱(AND)
2) 논리합(OR)
3) 논리부정(N
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