|
f 주파수 주변의 주파수는 LPF와 HPF에 의해서 각각 걸러지게된다. 1. 실험 목적
2. 사용기기 및 부품
3. 실험 내용 및 결과
A. 공간에 존재하는 잡음
B. 전원에 존재하는 잡음
C. 잡음의 유입방지
D. 잡음의 제거
4. 연습 문제
|
|
|
회로를 보호하고 정상적인 전원을 공급하는 일반적인 기능을 가능하게 한다.
브리지 정류회로 회로도
시뮬레이션 결과 값
[확대]
결과분석 및 내용
-시뮬레이션 결과 값을 확인하여보면 2개의 사인파와 사인파의 (-)부분이 역으로 전환된 파형
|
|
|
다이오드 정류회로
목적 및 배경
이 실험의 목적은 세 가지 다른 형태의 다이오드 정류회로, 즉 반파정류기, 중간탭 변압기를 사용한 전파정류기, 브리지형 전파정류기의 특성을 관찰하는 것이다.
이론
회로의 전력 공급을 위
|
|
|
3. 결과분석 및 토의
(1) 결과분석
전자회로에서의 가장 기본이 되는 장치이자 이미 2주차 실험에서부터 계속 다루어 왔던 전류기와 전압기의 원리에 대하여 알아보았다. 우선 기본적인 내용은 그렇게 어렵지 않았지만 실험 내용 및 과정과
|
|
|
파수를 위에서 수식으로 구한 공진주파수보다 작은 범위에서부터 큰 범위로
변화시키면서 저항과 LC공진회로 양단의 전압을 측정해 표에 기록한다.
실험을 통해 작성한 표를 가지고 저항과 LC공진회로의 양단전압을 주파수의 함수로
그린
|
|
|
증폭기 회로
→ 시뮬레이션 결과를 통해, 를 증명 할 수 있었다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010. < 1. 목 적 >
< 2. 이 론 >
< 3. 실험 과정 및
|
|
|
실험에서 다소의 오차가 발생하였다. 하지만 오차의 원인을 감안한다면, 실험을 통하여 전류 증폭기의 관계식 성립됨을 알 수 있었다.
< 3. 실험 결과에 대한 토의 및 고찰 >
실험2.전류-전압 변환 회로를 통하여 전압-전류 변환기, 전류-전
|
|
|
증폭기의 출력은 으로 이득(Gain)은 으로 표현된다. 또한, 위상차는 0° 가 되었다.
< 3. 실험 결과에 대한 토의 및 고찰 >
실험1.부궤환 회로를 통하여 연산증폭기의 이득에 영향을 미치는 부궤환 루프의 영향을 실험적으로 이해하고, 반전 증
|
|
|
실험의 목적
평활 회로를 이해하고 평활회로의 소자가 출력 전류 전압과 맥동(ripple)성분에 미치는
영향을 조사한다.
2. 실험 예비보고 사항
1)평활 회로의 목적 및 종류, 각각의 특성에 대해 조사하라.
·평활 회로의 목적
-현재 대부분의 전자
|
|
|
회로는 미분 기능을 상실할 것이다. 주파수를 올림에 따라 파형이 왜곡되고 더더욱 올리면 출력 파형이 반전 증폭기로 동작할 것이다. 이것은 커패시터가 고주파로 감에 따라 더 이상 커패시터로서의 동작을 못하기 때문이라 생각된다. 실험
|
|
메뉴펼치기
