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회로에서는 다이오드의 성질에 의해 중첩의 원리가 성립되지 않을것이라고 예상할수 있다. 또한 다른 실험책을 찾아보면 중첩의 원리를 실험 하기에 앞서 선형회로라는 전제조건을 주는것도 있음을 확인 할 수 있었다. 참고서적 : 전기전자
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  • 등록일 2012.11.05
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a/(h2+k2+l2)1/2 식으로 주어지며, 따라서 {hkl}면이 회절을 나타내는 각도는 sinθ = (h2+k2+l2)1/2入 / 2a 이 식에다 h,k,l의 값들을 넣어주면 djEJs 회절 무늬가 나오는가를 예측할수 있다. 즉, {hkl} = {111}, {200} 이면 h2+k2+l2 는 3 과 4 이다. 이와 같이 이 회절
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  • 등록일 2013.07.09
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및 결론(10) 2-2 전압정류기 1) 자료조사(10) 2) 이론적 특성분석(10) 3) spice를 이용한 특성 분석 및 이론적 특성분석과 비교 검토 및 결론(10) 2-3. 두 회로를 결합한 회로의 spice를 이용한 특성 분석및 이론과의 비교 검토(10) 3. 결론 및 고찰
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  • 등록일 2009.11.26
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회로도 <그림 2. 3> spice 결과 * 변압기 출력의 측정값은 6V가 아닌 다이오드의 전압 강하로 인해 5.3V임을 확인 할 수 있다. 브릿지 정류회로를 거친 전파정류 역시 Vp - 1.4 = 4.6V 이다. 3. C1, R1을 연결하고 A점의 출력을 스코프로 측정하고, 계산
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41 (6) 10K 저항 (7) 10K, 100K 가변저항 (8) 0.01uF, 0.022uF, 0.047uF, 0.1uF, 0.22uF, 0.47uF, 1uF 콘덴서 각 1개 5.실험순서 및 결과 5.1 실험회로에서 개루프 전달함수를 구하시오 5.2 실험회로에서 폐루프 전달함수를 구하시오 5.3 P제어기의 이득을 1, 10 , 50으로
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결과를 비교, 분석하라. 오차(%)를 계산하고 그 원인을 분석하라. Thevenin 의 정리가 성립하는가? 구 분 실험 4.1 실험 4.4 오 차 전 압 0.9858V 0.9828V 0.304% 전 류 0.00298A 0.00297A 0.335% → 실험결과 오차가 나는 이유는 Thevenin 등가회로를 구성할 때 가변
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회로를 작성해서 시현해 본 결과는 시뮬레이션과 같게 나왔다. 마지막으로 보드에 동작시켜 본 결과까지 같아서 두 회로가 같은 논리 회로라는 것을 증명 할 수 있었다. 3.실험3 A.Data Truth Table - 위 회로 A B X(V) X FPGA 0 0 0.041 0 0 0 1 0.156 0 0 1 0 4.26
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4) 위상 변화 측정 ① 저항 ② 축전기 ※참고자료 PHYSICS : Calculus, EUGENE HECHT 원저, 물리학교재편찬위원회 역, 청문각, 2006 전자 회로 실습, 이계호 이상종 공저, 일진사, 1979 제 7판 물리학 실험, 아주대학교 물리학실험실, 아주대학교 출판부, 2007
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  • 등록일 2008.12.26
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회로(검출기) 설계 코딩 벡터를 이용한 순차회로 설계 벡터를 이용하지 않은 순차회로 설계(reset이 안됩니다 벡터를 이용한 순차회로 시물레이션 결과 001011001011을 입력 1이 출력되고 0으로 리셋된 후 1이 출력 벡터를 이용
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  • 등록일 2011.06.10
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실험이 될 수 있도록 노력 해야겠다. < 참고자료 > 1. 실험과정 내용 스크랩 (다수 그림) 2. 충북대학교 정보통신공학과 광정보처리연구실 :http://osp.chungbuk.ac.kr/ (복조 그림) 3. 네이버 블로그 : http://blog.naver.com/nsesibong?Redirect=Log&logNo=60024076308
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  • 등록일 2007.05.19
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