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실험, 문운당, 2010, pp. 70~79.
김대곤 외8명 옮김, 재료역학6th, 시그마프레스, 2014, pp. 396~440., pp. 533~535.
도해 기계용어사전, 기계용어편찬회, 1990. 4. 1., 일진사 (굽힘시험) 1. 시험 목적
2. 시험 방법 - (굽힘시험 종류 및 방법)
① 항절시험
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1개가 공유 결합에서 제외되어서 방출되어 1개의 전자가 자유전자가 된다. 이와 같이 4족 원소는 주위에 1개의 자유전자를 공급하므로 donor라하며 donor가 첨가된 반도체를 N형 반도체라고 부른다.
P형 반도체는 진성 반도체에 3족 원소를 도핑하
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실험에서 사용한 10㎃ 전류계 의 내부저항을 결정하여라. 비록 10㎃ 계측기가 특별히 민감하지 않고 대부분의 경우에 저항계로 직접 측정할 수 있을 지라도 이 실험을 통해 이 방법을 확실히 이해하게 될 것이다.
전류계가 50㎃의 최대 눈금을
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