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지 조사에 응용된다.
※ 왕궁리 유적 연구
XRF 검사 결과 금과 은이 각각
약 50%정도 비율로 나온 것을
확인할 수 있다.
3. X선 회절분석(XRD : X-ray Diffraction Analysis)
① 원리
결정화 되어 있는 물질에 X선을 조사하면 산란선에 회절현상이 일어난다.
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X-선원과 검출기가 시편에 대해 θ - θ 로 움직인다. 이 방법은 분말이나 액상 시료를 측정할 때, 시료가 흘러내리지 않도록 할 수 있다는 장점이 있다.
4. 실험에 필요한 장치 및 기구
5. 실험 방법
A. 냉각밸브를 틀고, 냉각장치를 on 시킨다.
B. XR
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X선의 양은 1%이며 나머지 99%는 열로 변환된다. 99%의 열은 관용기내에 존재하는 냉각유에 의해 냉각된다.
5. 발생장치에서 발생되는 방사선에는 가속에 따라 두 가지 종류가 있다.
1) 특성방사선(선 스팩트럼): 빠른 속도로 지나가는 전자에 의
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회절이 잘 되는 것은 밝은 무늬의 간격이 더 넓어짐을 의미한다.
2. 단일슬릿과 회절무늬와 이중슬릿의 회절무늬는 어떻게 다른가?
단일슬릿 무늬
이중슬릿 무늬
이 실험은 수작업으로 이루어지는 부분이 너무 많아서 오차가 컸던 것 같다. 눈
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회절무늬가 관측될 것 같다.
8. 참고문헌 및 출처
Introduction to Optics, Pedrotti
Optics, Eugene Hecht
한국광산업진흥회 전자도서관
경상대학교 - 물리의 이해 http://physica.gsnu.ac.kr/
위키피디아 - http://ko.wikipedia.org
물리실험3 ( 광학실험 )
“슬릿에 의한 간
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실험 II 강의 자료, Organic Carbon Analyzer
[25] 안동대학교 공동실험실습관 사이트, “X-선 회절기(XRD Ultima IV)”, 검색일: 2022-12-05, https://andonglab.kr/EquipView.asp?EquipID=8
[26] 네이버 지식백과, “X-ray diffractometer”, 광용어사전, 검색일: 2022-12-05, https://terms
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작아야 격자를 통과한후 격자무늬를 관찰 할 수있기 때문이다. 따라서 일반적인 원자크기 보다 작은 파장을 지닌 x선과 같은 광원을 이용해야 할 것이다. 1. 실험 목적
2. 이론
3. 기구와 장치
4. 실험방법
5. 결과 및 토의
6. 결론
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X-선 회절법을 이용해 실험적으로 얻는다. 전자밀도의 등고선 지도는 이온의 전자구름이 어디에서 끝나는가 즉 활률전자밀도가 최소가 되는 곳과 핵의 위치를 확인할 수 있다.
결정 속의 이온은 LiF에 대한 전자밀도 지도에서 처럼 이온은 완
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X-선에 의해 산란된 x-선 산란파가
간섭현상을 일으키고 이는 특정한 방향으로만 진행하는 현상
증명: 1912년 Von Laue에 의해 실험적으로 증명
※ X-선 회절무늬(Diffraction pattern)는 각 결정 물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다.
결정물
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회절, 간섭이 일어나 반사나 굴절의 측정값에 영향을 미쳤을 수도 있다.
렌즈의 밀도가 불순물이나 불규칙하여 빛이 투과될 때 오차가 발생하였을 수도 있다.
여러가지 오차원인이 존재할 수 있지만 가장 큰 문제는 수동으로 모든 실험을 조
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