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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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약 1V가 나왔고 7400 TTL 2개의 게이트에서 입력단과 출력단의 전위차가 1V가 측정되는 것을 알 수 있었다. 실험 7. 디지털 게이트의 전기적 특성
1. 목적
2. 이론적 배경
3. 사용 장비 및 부품
4. 실험 방법
5. 예비 보고 사항
6. 결과 보고서
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회로와의 차이를 비교해본다.
Pspice 시뮬레이션 결과
74LS47 -> 7segment
그림 4-4
다중화기(74LS157)
그림 4-5
역다중화기(74LS155)
○ Reference
1. http://princess.kongju.ac.kr/DigitalMain/framekor.htm
2. 디지털논리와 컴퓨터설계, 황희융, 1986
3. 디지털전자회로, 탑출
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디지털 소자의 입출력에 방해를 준다.
그림 3.4 3-상태 TTL 인버터/버퍼
입력
출력
G
A
Y
1
0
1
1
1
0
0
X
Hi-z
입력
출력
G
A
Y
1
0
0
1
1
1
0
X
Hi-z
위와는 반대로 제어 입력 G가 입력이 부정 G로 되어 있을 때 G입력이 0일 때 정상동작이고, 1일 때 출력이 부정
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디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사
김광남 외(2009) 정보화 사회의 경영학, 한올
김종현(2005) 컴퓨터구조론, 생능
정병태 외(2002) 논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
진경시 외(2000) 디지털 공학, 기전연
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디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사
김광남 외(2009) 정보화 사회의 경영학, 한올
김종현(2005) 컴퓨터구조론, 생능
정병태 외(2002) 논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
진경시 외(2000) 디지털 공학, 기전연
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디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사
김광남 외(2009) 정보화 사회의 경영학, 한올
김종현(2005) 컴퓨터구조론, 생능
정병태 외(2002) 논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
진경시 외(2000) 디지털 공학, 기전연
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디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사
김광남 외(2009) 정보화 사회의 경영학, 한올
김종현(2005) 컴퓨터구조론, 생능
정병태 외(2002) 논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
진경시 외(2000) 디지털 공학, 기전연
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로그래밍(multiprogramming)
6) 다중처리(multiprocessing)
5. 병렬처리 구조의 분류
1) SISD system; 단일명령어스트림과 단일데이터 스트림
2) SIMD system; 단일명령어스트림, 다중데이터스트림
3) MISD system; 다중명령어스트림, 단일데이터스
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디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사
김광남 외(2009) 정보화 사회의 경영학, 한올
e비즈니스시대의 경영정보시스템, 방송통신대학교, 2005
김종현(2005) 컴퓨터구조론, 생능
정병태 외(2002) 논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디
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