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회로를 만들고나서 작동을 시켜보니 FND500의 밝기가 FND507 에 비하여 월등이 낮아 잘 보이지가 않았다. 그리고 멀티심에서는 나타나지 않았지만 비교기를 사용후 그 출력값으로 FND500을 구동시키기 때문에 5V가 되지않아 불이 애초에 밝게 나타
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소자
규격
측정 값
저항
99.7
218.6
218.8
469.7
0.9863k
2.1928k
9.94k
9.92k
캐패시터
9.97
9.96
9.97
250옴저항이 없어서 220옴으로 대체
■ 실험회로 2 : 반파 정류 회로 측정
1) 실험절차에 따라서 함수발생기와 오실로스코프로 입, 출력 파형을 측정하시오.
2)
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되면서, 함수발생기나 오실로스코프에 대한 사용법도 조금씩 더 알아가고 실험하는 데 도움도 많이 되는 것 같다는 생각이 드는 실험이었다. QA, QB 출력
CLK, QA 출력
<실험 1>은 SN7476, SN7404, SN74139 소자들을 이용하여 회로를 구성하고, 클
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는 전압을 측정하니 약 1V가 나왔고 7400 TTL 2개의 게이트에서 입력단과 출력단의 전위차가 1V가 측정되는 것을 알 수 있었다. 실험 7. 디지털 게이트의 전기적 특성
1. 목적
2. 이론적 배경
3. 사용 장비 및 부품
4. 실험 방법
5. 예비 보고
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1. 실험 목적
1) 회로의 분석에 사용되는 테브난과 노턴의 정리를 이해하고 응용하는 능력을 키운다.
2) 테브난 실험 회로도를 설계하여 전압원과 전류원의 등가회로를 구한다.
2. 실험용 기기 및 부품
1) 디지털 멀티미터
2) 브레드보드
3)
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회로] 그림 10-2, 10-3 에서와 같은 회로를 꾸미고, 각각의 회로에 RC 회로의 입력단에 함수발생기를 이용하여 “삼각파”, 사각파“를 입력하여 본다. 미분, 적분 특성이 나타나는가를 확인한다.
(3) 그림 10-2 회로에서 함수발생기를 사용하여 정
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는 동일하다는것이다.
큰차이점은 BCD코드는 10(1010)이상의 10진수는사용을 하지 않는다는것에 차이가 있다.
그로인해 비트가 낭비되는 단점이 존재하게 된다. 비트가낭비되면 그만큼 회로를 더구성하는만큼 비용이 증가하게 될것이다.
대신
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는 것이다. 측정값을 보면 0V와 5V의 값에 오차가 있는 것을 알 수 있는데, 각 값들은 Low Level과 High Level의 범위에 있기 때문에 올바른 값이라고 할 수 있다. 이러한 오차는 브레드보드 내부의 저항과, 실험에 쓰인 게이트 내부를 통과하는 과정
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디지털의 단점은 저장된 파형은 전원을 오프할 때까지 유지한다는 점이다. 또한 아날로그 샘플링 계기가 동작할 수 있는 정도의 높은 파형에서는 사용하지 못한다는 단점도 있다.
5. 단단(單端, single-ended)입력을 가지고 있는 오실로스코프와
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는데 실험결과에서 상승시간은 36.60, 하강시간은 39.20가 측정되었다. 예상으로는 상승시간과 하강시간이 같을 것이라 생각 했는데 하강시간이 약 2.6더 크게 측정되었는데 아마 측정할 때 진폭이 10%와 90%가 되는 점을 정확히 찾지 못해서 상승
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