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HPF를 동시에 쓴다면 f 주파수 주변의 주파수는 LPF와 HPF에 의해서 각각 걸러지게된다. 신호와 잡음, 그리고 접지
1. 실험 목적
2. 실험 해설
3. 예비 문제
4. 사용기기 및 부품
5. 실험 내용
6. 실험 내용 및 결과
7. 연습 문제
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디지털 멀티 미터
저항 4.7kΩ (4개), 5.6kΩ (2개), 6.8kΩ, 22kΩ, 27kΩ
커패시터 : 100μF (전해, 2개)
바이폴라 트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
4. 실험 방법
4.1 베이스 접지 증폭기
1) 실험 회로 8-1의 회로를 구성하라.
2) 동작점을 측정하기 위하여 입력 신호를
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실험결과에 관한 고찰
이번 중첩의 원리를 알아보는 실험은 이전의 테브난의 정리에 사용되었던 무려 5개의 저항보다 2개 적은, 3개의 저항만을 이용하여 회로를 구성하였다. 그래서 겉보기에는 비교적 쉬워 보일 수 있었으나, 그렇지 않았다.
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7.4V정도가 되어야 스위칭 되는 현상을 관찰 할 수 있었다. 또한 저항이 줄어듦에 따라서 와 의 절대값이 작아진 것을 볼 수 있다.
실험2는 슈미트 트리거 회로를 이용한 사각파 발생회로를 만들어 R1, C1의 변화에 따른 주파수 변화를 측정해보
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7을 입력하면 2²와 2¹와 20 등 3군데에 출력이 나온다. 다이오드메트릭스게이트나 논리회로의 조합으로 구성되며 대표적인 기능을 갖는 것은 집적회로화되어 있다. PCM통신에서는 아날로그디지털 변환기를 코더라 한다.
4. 참고 자료
-VHDL을 활
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실험적으로 확인 할 수 있었던 것이다.
< 4. 참 고 문 헌 >
- FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010.
- 디지털 디자인, John F. Wakerly, 사이텍미디어, 2008. < 1. 목 적 >
< 2. 이
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회로로 놓는다.)
3. 사용 장비 및 부품
직류 전원 공급 장치
함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
MOSFET : 2N7000TA (1개)
저항 10Ω, 1.8kΩ, 2.2kΩ, 3.3kΩ, 4.7kΩ 등 다수
커패시터 : 1μF (전해, 1개), 2.2μF (전해, 1개), 330μF (전해, 2개)
4. 실험 방
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회로』, 한빛미디어, 2005
3. 권오근 · 권준식 · 김용민, 『디지털공학 및 실험』, 인터비전, 2006.
4. 강안구 · 임석구 · 최지영, 『전자계산기 구조』, 한올출판사, 2007
5. M. Morris Mano, 『Digital Design』, http://matdol.hanseo.ac.kr, 2009.05.27
6. 미상,『플
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과
1.diode 특성 측정
1)
2)회로 구성
다이오드 전류(전체전류)
VD
0
0~0.4
0.444
0.514
0.552
0.606
0.648
0.699
0.75
0.795
ID
0
0
0.04
0.19
0.43
1.35
3.4
10.55
36.7
124.8
2.LED의 구동
*실험
①
②
Vs
VP
VRS
IP
5.6V
2.224V
3.394V
18.76mA
결론
Diode 특성 곡선 실험을 통해서 0.7V에서
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회로 간소화
실험목적
BCD - 부당한 코드 탐지기의 진리표를 나타낸다.
논리식을 간략화 하기 위해서 카르노맵(Karnaugh-map)을 이용한다.
간략화 된 논리식을 실행하는 회로를 설계하고 실험한다.
실험부품 및 사용기기
7400 NAND 게이트
LED
DIP
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