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서플라이, 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 연산 증폭기(LM741), 저항 등. 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 2n7000 (NMOS) 1개, 저항, 커패시터, FQP17P10(PMOS) 2개 (모의실험은 FDC6322CP 사용) 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 고찰
6. 참고문헌
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디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), Q2N4401(혹은 Q2N2222) 1개, 저항, 커패시터 등 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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오실로스코프의 기계오차를 말할 수 있다. 또 Function generator가 안정한 상태가 아니라 불안정한 상태이므로 오차를 발생시키기 쉽다. 또 불안정한 상태이다 보니 0.01kHz단위로 주파수가 조금씩 변하기도 하였는데 이 차이는 10Hz의 차이임으로
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오실로스코프와 Function Generator의 사용법을 실습하였다. 파워서플라이나 디지털멀티미터에 비해 복잡하였다. 기능도 많이 있어서 하루에 모든 기능을 숙지하기는 버거웠다. 다음 시간에 더욱 숙지시키도록 노력해야겠다.
본 실험에 들어가서
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오실로스코프에 통해 나타는 결과로는 진폭(전압)의 크기는 10배 증가하는 것을 확인할 수 있었다. 이것은 위의 실험데이터에서 설명하였듯이 dB이 log스케일로 변환한 값이기 때문에 나타나는 특성이다. 어렵지 않은 간단한 실험이었고 조교
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오실로스코프를 이용하는 것이다. 너무 오랫만에 써보는 것이어서 처음에는 주파수를 잡기 힘들었지만 조금 하다보니 우리가 원하는 파형을 얻을수 있었다. function generator에서 TTL 파형을 출력하고 주파수가 1Hz 정도로 했기 때문에 주파수 잡
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위의 사진과 같은 파형을 얻을 수 있었을 것입니다. (7476 소자로 시뮬레이션이 가능했다면 파형은 실제실험에서 오실로스코프의 역할을 하는 vpulse소자를 이용하여 파형을 얻어낼 수 있었을 것입니다.) 실험목적
예비과제
실험
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오실로스코프 ⑥ Function Generator
실험 방법
(1)TR의 콜렉터 특성 곡선
① 위 그림처럼 회로를 꾸민다.
② IB를 10 mA로 조정한다. VCE를 1,2,3,4,5,6v로 변화 시켜 가며 그에 따 라 IC값을 측정 한다.
③ IB를 20 mA로 조정한다. VCE를 1,2,3,4,5,6v로 변화 시켜
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(d) 회로도
그림 9-6. BCD 카운터
3. 사용부품 및 계기
오실로스코프
Function generator
74LS112(2개)
74LS00(1개) 1. 실험목적
2. 관련이론
1) 동기식 순차회로와 비동기식 순차회로
2) 동기식 modulo-N 카운터
3) BCD 카운터
3. 사용부품 및 계기
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