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동부하이텍 , 2007
<논문>
J. K. Jeong et al., “Origin of threshold voltage instability in indium-gallium-zinc oxide thin film Transistors”, Appl. Phys. Lett. 93, 123508 (2008)
J. S. Park et al., “Novel ZrInZnO Thin-film Transistor with Excellent Stability”, Advanced Materials, 21, 329-333 (2009
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