|
비 및 부품
직류 전원 공급 장치
함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
저항 1kΩ, 2Ω, 2.7kΩ, 3.9kΩ, 4.7kΩ, 5.6kΩ
커패시터 : 47μF (전해, 3개)
4. 실험 방법
4.1 이미터 접지 증폭 회로
1) 실험 회로 12-1의 회로를 구
|
|
|
회로
위 좌측 그림에서 우측 그림으로 테브난 등가 회로로 고치면
, 이고,
, ,
위 식에서 이면 는 에 무관하게 된다.
3. 사용 장비 및 부품
직류 전원 공급 장치
디지털 멀티 미터
바이폴라 트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
4. 실험 방법
4.1 트랜지스터
|
|
|
실험을 하면 더 빠르게 실험을 할 수 있었을 것이다. 동작 영역에 관련된 실험에서는 예상했던 결과와 거의 비슷한 결과값을 얻어서 실험을 순조롭게 진행할 수 있었다.
2.2 고정 바이어스 회로
2.2.1 실험 회로도
PSPICE 회로도
브레드 보드 구성
|
|
|
있었고, 이상적인 특성과 약간 다름을 알 수 있었다.
2.2 입력 바이어스 전류 및 옵셋 전류
2.2.1 실험 회로도
회로도
브레드보드 구성
2.2.2 실험 방법
1) 위와 같이 회로를 구성하고 디지털 멀티 미터를 사용하여 연산 증폭기의 입력 단자에서 전
|
|
|
표지 양식
년도-학기
2020 년 2학기
과목명
전자회로실험
LAB번호
제목
1
연산 증폭기 및 선형 연산
증폭기 회로
실험 일자
2020년 11 월 25 일
제출자 이름
제출자 학번
Chapter 1. 관련 이론
연산증폭기
연산 증폭기(op-amp, Operational amplifier)는 한 개의
|
|
|
표지 양식
년도-학기
2020 년 2학기
과목명
전자회로실험
LAB번호
제목
1
차동 증폭기 회로
실험 일자
2020년 11 월 18 일
제출자 이름
제출자 학번
Chapter 1. 관련 이론
차동 증폭기(differential amplifier)
아날로그 집적회로(IC: integrated circuit)를 구성하는
|
|
|
전자공학 > 반도체 > 트랜지스터 > FET]
http://www.ktword.co.kr/word/abbr_view.php?m_temp1=4235&id=1341&nav=2&m_search=FET%EB%B0%94%EC%9D%B4%EC%96%B4%EC%8A%A4
[Fundamentals of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출
|
|
|
실험): 검토 및 느낀점
이번 실험을 통해서 MOSEFT의 특성에 대해 알아보았다. 이번 실험으로 와 의 전압-전류 특성도 알 수 있었고, 문턱전압이라는 가 무었을 의미하는지도 알게 되었다. 아직 전자회로 이론 시간에 배우지 않은 내용이라 생소
|
|
|
실험은 일반적으로 많이 사용하는 UA741 OP-AMP의 내부회로를 직접 설계하여, 설계된 회로가 제대로 동작하는 지를 실험적으로 확인하는 것이다. OP-AMP의 내부에는, 지금껏 전자회로를 통해 배운 갖가지 기술들이 집약적으로 들어가 있는 것을 알
|
|
|
전자회로실험
-chapter24. 미분기 (예비보고서)
-chapter25. 적분기 (예비보고서)
미분기
1. 회 로 도
2. 결 과
조건 1
주파수
1KHz
C
조건 2
주파수
1KHz
C
조건 3
주파수
1KHz
C
조건 4
주파수
2KHz
C
3. 이 론
▶연산증폭기를 사용한 미분기의 간단한 회로-이상
|
|
메뉴펼치기
