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회로도 (i)를 구성하고 J, K를 표 7과 같이 변화시키면서 CLK 신호를 가해 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 7(a)에 기록한다.
(11) 회로도 (i)대신 7476 JK flip-flop을 사용하여 절차 (10)을 반복하고 표 7(b)에 기록한다. 1.실험제목
2.목적
3.이론
(1)
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회로 - 기현철 저
http://blog.naver.com/earthshake/150029895540
병렬 구성
전자 회로 - Robert L. Boylestad, LOUUS NASHELSKY 저
전자 회로의 기초 - 김재요 저
http://blog.naver.com/earthshake/150029895540
http://pinkwink.kr/237 (1) 옴의 법칙
(2) 직렬 구성
(3) 병렬 구성
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회로에 대해 생각해 보자. 각각의 인버터 단에서 인가되는 입력 논리가 출력 논리에 변화를 주기 위해서는 10ns의 시간이 필요하다고 가정하라(이를 전파지연(propagation delay)이라 부른다).
a. Vout에 대해 기술하라.
5개의 인버터를 지날때와 1개의
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르히호프의 전류법칙 (
R`_{ 3 } =10
㏀)
4) 실험과정 (7)의 결과를 표 6-3에 작성하고, 이론적인 계산 결과와 실험 결과를 비교하라. 만약 결과가 일치하지 않으면 그 이유는 무엇인가?
입력전압
(V)
V`_{ 1 }
(V)
V`_{ 2 }
(V)
V_{ 3`_{ } }
(V)
5
0.56
1.84
2.
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4) 실험과정 (6)에서 측정된 결과를 표 11-3에 기록하라.
R_{ 1 }
300 [ ]
300 [ ]
1 [㏀]
2 [㏀]
3 [㏀]
R_{ 2 }
300 [ ]
680 [ ]
2 [㏀]
1 [㏀]
1 [㏀]
V_{ 1 }
6 [V]
6 [V]
12 [V]
8 [V]
24 [V]
V_{ 2 }
6 [V]
6 [V]
15 [V]
10 [V]
12 [V]
이론값[
V
]
6.04
6.03
13.16
9.41
15.18
측정값[
V
]
6.00
6.
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결과 : 단일 전원 동작
5) 실험과정 (2)~(4)로부터 중첩의 원리가 성립하는지를 확인하고, 또 계산치와 비교하라.
이 실험을 통해 중첩의 원리가 성립함을 확인 할 수 있다.
6) 실험과정 (7)과 (8)로부터 중첩의 원리가 성립하는지를 확인하고, 또
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실험결과
실험 과정
실험 과정 (2)
AD590의 온도
25℃
40℃
50℃
60℃
70℃
80℃
90℃
100℃
측정한 전류값
실험 12-2 : 온도 변화에 ekFMS 서미스터의 특성실험
(1) 회로 구성도와 같이 회로를 구성한다. 접촉식 디지털 온도계를 AD590의 표면에 부착한다.
(
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결과적으로 (+)의 입릭신호만이 부하 R에 출력전압(
V_0
)으고 나타나게 된다. 이때의 출력은 교류가 아닌 진동하는 직류로서 맥류라고도 한다.
(a) 반파정류회로 (b) 입력파형 (c) 출력파형
III. 실험방법
실험 A는 다이오드의 전류-전압 특성 측정
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실험회로
실험 D. 광연결기 실험이다.
그림 3-8의 회로를 구성한다. 가변 직류전원의 출력전압을 조절하여
{V}_{s}
에 따른 출력전압
{V}_{out}
을 측정하여 표에 기록한다. 표에 기록한 결과값을 가지고 광 연결기의 전달곡선을 얻어본다.
그림 3-8
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표2에 나머지 값들도 바꾸어 가면서 기록한다.
Potentiometer
{R}_{1}
를 조절하여
{I}_{B}
가 표2의 나머지 값들이 되게 설정하여 측정한후 기록한다.
이 결과를 이용하여
{I}_{C}-{V}_{CE}
특성 곡선을 알아본다.
그림 5- IC-VCE 특성 실험회로.
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