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C^2}}{I}
또는
{I}=~{V}over{SQRT{{R^2}+{X_C^2}}}
(3.51)
인 관계가 성립된다.
회로 전체에 대한 임피던스 Z는 식 (3.50), (5.51)로부터
{Z}=~SQRT{{R^2}+{X_C^2}}~=~SQRT{{R^2}+{(-{1}over{omegaC})^2}}
(3.52)
이 되며, 이 경우에는 R-L직렬회로와는 달리 식 (3.49)로부터 임피던스 각
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c) 변하지 않고 그대로이다.
⇒ 부하저항 RL값이 무한대에 가까울수록 이상적인 회로가 되고 Loading effect가 발생하지 않게 되어 발생할 수 있는 최대 전압이득을 유도할 수 있다. 위에서도 실험을 통해 분석해 본 것과 같이 RL값이 더 커지게 되
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회로를 그리고 실험절차를 설명하라. 저항계(DMM)의 위치를 명시하라.
그림 1 브리지회로에서 부분과 전압원을 제거한 후, 남은 부분 (a, b)에 전항 측정모드로 설정한 DMM에 연결한 후에 값을 측정한다.
[P23의 그림 5.2의 (c)]
3.4 부하가 포함된 Theve
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실험에 대한 확실한 이해를 할수 있었습니다.
이번 실험에 대한 문제점은 실험 분석 부분에 자세히 기술 하였습니다. D/A & A/D Converter(DAC & ADC)
이론
1) D/A CONVERTER
2) A/D CONVERTER
실험 1. D/A converter
회로구성 사진 (Pspice)
및 실험 사진 첨부
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실험중 V ,V 값을 일정한 시간동안 측정하는게 좀 힘들었다. 220(㎌)커패시터가 없어서 330(㎌)커패시터를 사용해서 예비이론 에 나온 값과 정확한 값을 비교 할수가 없었지만 330(㎌)커패시터로 측정해도 거의 비슷한 값이 나왔다. 1.실험 목
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측정모드, DC 측정모드일 때의 값을 비교해봄으로써 각각 측정된 값들이 무슨 값을 의미하는지도 알게 되었다. 저항을 연결하여 각 저항에 걸리는 전압의 파형을 출력하는 실험도 해보았는데 예비보고서에서 설계한 회로와 일치하였고 예상
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저항 및 실험과정에서의 오차는 항상 있을 수 있기 때문에 그정도의 오차는 허용오차 안에 포함이 된다고 생각합니다.
가역정리 실험데이터 또한 이론값과 매우 근접할 결과라 할 수 있겠습니다. 회로가 단순하면 단순할수록 데이터에 오차
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걸리는 전압과 전류를 계산 할 수 있다. 그리고 ,값을 더 해주면 회로에 걸리는 전체 전류을 구할 수 있었습니다. 1. 실험제목
2. 실험목적
3. 관련이론
4. 결선도
5. 실험기기 및 재료
6. 실험방법
7. 실험결과
8. 검토 및 고찰
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저항 : 1KΩ
˙캐패시터 : 0.01㎌ 2개
˙타이머 : NE555
■ 실험과정
1. 주어진 저항값에 대해 그림 회로의 출력주파수와, 듀티비를 계산하여 적는다.
2. 그림 회로에 Ra = 10KΩ, Rb = 100KΩ을 연결한다.
3. t1과 t를 측정하고, 주파수와 듀티비를 구하고 기록
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FUNDAMENTALS OF MICROELECTRONICS, RAZAVI, WILEY, 2008.
- FEEDBACK CONTROL OF DYNAMIC SYSTEMS, F.FRANKLIN, PEARSON PRENTICE HALL, 2010.
- 전자회로실험 교재, 아주대학교, 2011. < 1. 전 략 >
< 2. 이 론 >
< 3. 예비 설계 및 설계 결과 예상 (시뮬레이션) >
< 4. 참 고 문 헌 >
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