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R )^2 + (omegaC)^2}
2-19
theta = tan^1 B OVER G = tan^-1 (R omega C)
2-20
이 된다.
실험기기
테스터, 오실로스코프, 함수발생기, 교류전압계, 교류전류계
만능기판, 만능기판용 전선, 스트리퍼
저항 220 , 470 , 1.5k 1 . 개요
2. 실제의 공진회로
2-1 직렬
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실험 9. 회로망 정리의 검증 (결과 레포트)
3. 실 험 과 정
(1) 중첩의 정리
(2) 가역 (상반)정리
(3) 테브낭의 정리
(4) 노튼의 정리
4. 실 험 결 과
(1) 중첩의 정리
(2) 가역(상반)정리
(3) 테브낭의 정리(R1⇒Rs)
(3) 노튼의 정리
5. 고 찰
(
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측정을 할 수 있었다.
추가적으로 trigger level의 조정방법도 다루었고, EXT trigger가 외부에서 일정한 기준신호를 잡아 trigger를 잡아준다는 것도 실험으로 확인하였다.
이번 실험계획서도 자신이 설계한 회로도와 거의 일치하여 실험도 잘 진행되
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회로를 의미하게 되는 것이다. 이렇게 되면 OPEN회로가 되는 것이고 이때 출력전압은 전류가 흐르지 않으므로 인가된 전압과 같게 된다.
4. 그림 2의 그림에서 부하저항이 제거된다면 제너다이오드를 흐르는 전류는?
(a) 0㎃ (b) 10㎃ (c) 20 ㎃ (d) 40
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저항은 오히려 감소하는 경향이 있다.)
그러므로 같은 전압을 공급해 주어로 실제적으로는 옴의 법칙은 이론적으로만 이상적인 값을 가지게 된다. 1. 실험방법
2. 실험 data 분석
(1) 저항과 전류의 변화에 따른 전압의 측정
(2) 전류가 2mA,
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/DIV : 0.2V, TIME/DIV : 2㎲로 조정한 후 FG 출력파형, 저항전압파형, 인덕터파형을 측정한다.
※ FG 출력파형, 저항 전압파형
※ FG 출력파형, 인덕터 전압파형
5. 결과 및 분석
5.1 실험 4.1의 결과, 즉 입력전압을 기준으로 한 R, L의 전압을 그리고 제
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실험이론 ………………………………… 3P
3. 필요부품 및 기기 ……………………… 3P
4. 실험순서 ……………………………… 3~4P
5. LPF, HPF란? ………………………, , 5P
6. 실험과정 ………………………………… 6P
7. 소감 및 고찰
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실험 결과 분석 및 고찰
실험4의 경우, 실험3과는 다르게 출력 전압이 커패시터 C에 걸리는 전압이다. 따라서 총 임피던스 값 Z와 총 전류 I는 실험1에서의 임피던스, 전류 값과 같으나 R과 C의 위치가 바뀌어 출력 전압이 달라진다. 실험 2를 통
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l추의중량 - 측정값l or ㅣ증압시 - 감압시ㅣ 이 오차를 개인적인 오차 혹은 기기오차 등으로 볼 수 있다 .
※오차의 발생이유
계기오차
- 측정기의 정도 결정은 KS에서는 온도 20°C, 기압 760[mmHg], 습도 58%로 규정하고 있으며 계기오차는 측정기
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C는 [F]의 단위를 갖는다. 그 관계는 그림 9-와같다. 단안정 동작은 시간지연, 손상된(ragged)펄스파형의 재생, 입력 펄스 확장, 바운스 없는 스위치 등의 용도에 사용된다. 일반적으로 실험회로에서는 IC 내부의 블록인 OP amp나 플립플롭, 저항 등
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