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측정 방법
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
(1) ICP-MS란?
(2) 구성장치
(3) 기존 장비와의 비교
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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조성분석(compositional analysis)법이며, 고분자가 연소되는 온도영역에서는 분해속도(decomposition kinetics)가 고분자마다 서로 다르기 때문에 가치있는 고분자의 정량적 분석이 가능하다.
그림 3. 고분자의 TGA curve: 1. 휘방성분의 증발에 의한 질량손
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TGA (ThermoGravimetric Analysis) -열중량 분석기
1) 장치 구성
2) 전자저울 종류
3) TG의 가중기법
① TG 곡선의 의미
② TG 미분곡선
③ 미분곡선을 이용하는 이점
④ 전형적인 TG-curve
4) 분석방법
① 조성의 분석
② 열안정성
③ 분해반응속도
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TGA실험에 영향을 끼치는 요인들
- 장치의 구성재료와 구조에 따른 영향
시료와 crucible 또는 장치구성 부분과의 반응
crucible 의 형태, 크기 및 재질 등
- 측정 방법에 따른 영향
가열 속도 및 열전달
가열로 내의 기류의 조성
온도 또는 기류
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page
☞금속조직학(청문당:1998)- 김문일 129~139 page
☞그림으로 설명하는 금속재료(청호 출판사:1998)- 이승평 56~61 page
☞http://bulam.snut.ac.kr
☞http://plaza.snu.ac.kr 1.서론 및 목적
2.실험방법
3. 실험 결과
4. 고찰 및 토의
5. 참고 문헌
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