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AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
1. 감도
2. 검출한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
2. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4
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AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemica
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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빠른 전자를 물체에 충돌시킬 때 투과력이 강한 복사선(전자기파)이 방출되는데 이 복사선을 X-ray 각각의 금속에 고유한 에너지 이상의 빛을 쬐었을 때 전자가 일함수라고 하는 원자핵과의 속박에너지 이상의 에너지를 얻어 금속 밖으로 방출
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X-ray Photoelectron Spectroscopy)이라고 더 많이 불려지고 있습니다.
먼저 광전효과이론에 의하면, 조사된 빛 에너지 hυ와 전자의 결합 에너지(Eb), 금속의 일함수(eФ)에 의해, 금속에서 방출되어 나오는 광전자의 최대 운동에너지(Ek,max)를 아래의 식과
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분광기
3. 고분별능 핵자기 공명분광기
4. 자기광 타원 분광기
5. 광전자 분광기(X-Ray Photoelectron Spectroscopy)
6. 고속레이저 분광기(Fast Laser Spectroscopy System)
7. 전자스핀 공명분광계(Electron Spin Resonance Spectrometer)
8. 라만분광기(Raman Spectroscopy)
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