이미터 접지 증폭기_결과(전자회로실험)

소개글

이미터 접지 증폭기_결과(전자회로실험)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. 사용 장비 및 부품
2. 실험 방법 및 결과
2.1 이미터 접지 증폭 회로
2.2 출력 파형의 왜곡 현상 관찰
3. 결론

본문내용

에서 식을 이용해 구해보니 약 218Ω이 나왔다. 예비보고서에서 =2kΩ와 =5kΩ이라 하였는데 오차가 매우 큰 것을 보아 측정을 잘못하거나 입력 신호를 잘못 인가한 듯 하다.
2.1.4 검토 사항
출력 파형을 관찰하고 전압 이득을 구하는 실험은 실험시간에 교수님과 함께하여 막힘없이 원하는 값을 얻을 수 있었는데, 실험시간에 입출력 저항을 구하는 것을 빼먹어서 교수님 없이 비는 시간에 따로 실험을 하다보니 막히는 부분도 많았고 실험값도 엉터리로 나왔다. 다음 실험시간에 교수님께 다시 여쭤보고 입출력 저항을 측정하는 법을 다시 배워서 다시 실험할 수 있도록 해야겠다.
2.2 출력 파형의 왜곡 현상 관찰
2.2.1 실험 회로도
PSPICE 회로도
브레드 보드 구성
2.2.2 실험 방법
1) 실험 회로 7-1 회로에서 입력 신호의 크기를 증가시켜 가면서 출력 파형을 관찰하라. 출력 신호의 왜곡이 없는 입력 신호와 출력 신호의 최대값을 측정하라.
2) 실험 방법 1)을 PSPICE로 시뮬레이션하고 실험 결과와 비교하라.
3) 입력 신호의 피크값을 각각 200mV, 500mV로 증가시켰을 때 출력 파형을 관찰하라. 이 결과로부터 이 회로는 차단 상태와 포화 상태 어느 쪽에 먼저 도달하는지 판단하라.
2.2.3 실험 결과
입력 300mVpp 1kHz
입력 350mVpp 1kHz
CH1 입력 CH2 출력 파형
MEASURE 측정
CH1 입력 CH2 출력 파형
MEASURE 측정
실험 방법 1)을 따라 입력 신호의 크기를 우리 조에서는 150mVpp에서 50mVpp 단위로 증가시켜 가면서 출력 파형을 관찰하였다. 약 450mVpp까지 진행하였는데 우리의 눈으로 관찰하여 신호의 왜곡이 생기는 지점을 관찰하였더니 약 350mVpp에서 출력 파형에 왜곡이 생기는 것을 볼 수 있었다. 출력 신호의 왜곡이 생기지 않은 300mVpp에서의 입력 신호와 출력 신호의 최대값을 측정하면 입력 신호는 약 300mVpp, 출력 신호는 약 1.58Vpp를 얻었다. PSPICE 시뮬레이션의 결과 입력신호 300mVpp, 출력 신호 1.578Vpp와 비교하면 시뮬레이션 결과와 거의 비슷한 실험 결과를 얻었음을 알 수 있다. 입력 신호에 200mVpp와 500mVpp를 인가하였을 때 출력 파형을 비교해보면 500mVpp일 때의 출력 파형이 왜곡되어 출력 되는 것을 눈으로 관찰할 수 있다. 이 결과로부터 이 회로는 포화 영역에 먼저 도달한다고 볼 수 있다. 입력 신호가 200mVpp일 때 출력 신호는 약 1.16Vpp가 나왔고 PSPICE 시뮬레이션은 출력 신호가 1.07Vpp가 나온 것을 보면 거의 비슷한 값이 나왔고, 마찬가지로 입력 신호가 500mVpp일 때 출력 신호는 약 2.24Vpp가 나왔고 PSPICE 시뮬레이션은 출력 신호가 2.5Vpp와 비교하면 거의 비슷한 실험 결과를 얻었음을 알 수 있다.
2.2.4 검토 사항
이 실험을 통해서 이미터 접지 증폭 회로에서 출력 파형의 왜곡에 따른 포화 상태의 도달에 대해서 알 수 있는 실험이였다. 실험이 대체적으로 PSPICE 시뮬레이션 결과와 비슷하게 나와 실험을 순조롭게 진행할 수 있었다.
3. 결론 이미터 접지 증폭기에 대해 실험을 해보고 트랜지스터를 이용하여 증폭을 하는 원리를 이해할 수 있는 실험이였다. 트랜지스터가 포화 상태에 도달하면 왜곡 현상이 일어나는 것에 대해 공부할 수 있는 좋은 기회였다. 실험 시간에 입출력 저항을 측정하는걸 잊고 실험하지 못하고 따로 실험을 해봤는데 예상했던 결과와 너무 차이가나서 아쉬웠다. 측정 과정에서 틀린 부분을 다시한번 확인해 보고 다음 실험 시간에 교수님께 여쭤보며 다시 실험을 해야할 것 같다.

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