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크기 이상의 전압을 인가했을 때 출력에서 클리핑 현상이 발생하는 것을 알아보는 실험이다. 시뮬레이션과 비슷한 값으로서 약 100mV의 파형을 인가했을 때, 클리핑 현상이 발생했다는 것을 확인할 수 있다. 1. 실험 결과
2. 비고 및 고찰
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실험에서는 약간의 오차가 발생하였습니다. 그 이유는 계산과정에서 약간의 오차가 있어서 결과값과 측정값의 차기가 발행 한것 같습니다. 공통 소스 트랜지스터 증폭기
실험 순서
1. Idss와 Vp측정
2. 공통 소스 회로의 직류 바이어스
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실험은 차동증폭기의 다양한 입력신호에 따른 출력신호를 관찰 하는 실험이다.- 과정6은 동상이득과 차동이득을 계산하여 측정한 와 계산한 를 비교해봄으로써 계산 값과 측정값의 차이가 거의 없다는 것을 확인 할 수있다.
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이번 실험을 통
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실험은 기초적인 전기시스템에 대한 지식을 다시 한 번 상기시켜주고, 그 응용 가능성을 보여준 좋은 기회가 되었다고 생각한다. 1. 실험목적
2. 실험장비
3. 기본이론
3-1. 연산증폭기 (OP-Amp)
3-2. 실험에서의 전제조건
4. 실험결과
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결과의 적절성을 보이고, 출력전압()의 크기(Peck to Peck)를 아래의 표에 표시하시오. 의 Peak to peak는 20 mV, freq는 10 Hz, 100 Hz, 1 kHz, 100 kHz, 1 MHz, 30 MHz, 는 20 V로 설정하고, 두 주기의 입출력 파형이 출력되도록 설정하시오. Run to time = (단, 트랜지스터
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증폭기
PSpice를 통해 주어진 회로를 구성하여 시간 영역(과도)해석을 수행하라. 또한, 회로의 schematic 및 입력전압(), 출력전압()의 파형을 해당 표에 포함하여 시뮬레이션 결과의 적절성을 보여라. 의 Peak to peak는 10 mV, freq는 1 kHz, 는 9 ~ 14 V로 설
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결과의 적절성을 보여라. Freq= 10 kHz, = 20 mV로 하고, 두 주기의 입출력 파형이 출력되도록 설정하시오. Run to time = . (단, 트랜지스터의 제조사에 따라 실제 증폭율과 차이를 보일 수 있음)
Schematic (Differential mode)
Differential Mode (vi+, vi-, vo1, vo2)
Schem
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안정도가 높아짐
Ve=1/10Vcc~1/4Vcc의 값을 가지며 이에 따라 출력 전류가 달라지므로 이 값은 전체적인 회로의 값에 영향을 미침 01. 실험 목적
02. 실험 장비
03. 이론 개요
04. 실험 과정
05. 실험 결과
06. 토의 및 고찰
07. 질의응답
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100mV로 조절하라. 오실로스코프로 , 의 를 측정하고, 중간대역에서의 증폭기 이득 를 계산하라.
(CH1 0.2V/div, CH2 50mV/div, 가로50s/div)
▶ peak to peak : 100mV
▶ peak to peak : 400mV
▶ 중간대역에서의 증폭기 이득 K = 4V/V
▶ 결과 분석할 때 보니 실험에 사
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증폭기: 이득은 비반전 루프를 통해 계산되며, 다음과 같은 공식으로 계산됩니다.
Av = 1 + Rf / Rin
여기서, Av는 비반전 증폭기의 이득
Rf는 피드백 저항
Rin는 입력 저항
3. 데이터시트
4. 실험
6. 실험 결과
※ 실험 1) R1 : 10k, R2 : 10k ※
설명 : 피크
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