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실험후 토의
회로도를 작성하고 OP AMP를 이용하여 전기의 흐름을 이해할수 있는 실험이었다. 그 동안 기계공학과에서 자주 접해보지 못한 소재로 실험을 하여서 그런지 약간의 어려움은 있었지만 아주 기초적인 전기 전자를 이해하는데 도움
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실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다. 1. 실험 결과정리
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전압과 음의 입력전압은 서로 상쇄되고, 다이오드는 전도상태로 되지 못한다.
참고문헌
대학기초실험 : 최승헌 외 3명 공저 : 복두출판사
일렉트로닉스 : MALVINO : 대영사
신회로이론 : 박송배 저 : 문운당
일반전자공학실험 : 김태중 저 : 상학
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Pspice 기초와 활용 복두 출판사
3. 물리학 원론
4. 대학물리 대웅 출판사.
5. 전기 전자공학 기초실험 대웅출판사
6. http://antenna.rfdh.com/ Pspice에 관한 싸이트 1 실험 제목
2. 실험 목적
3. 기초 이론
4. 실험 방법 회로
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전자가 나온다는 것을 뜻하는 듯 싶다. 그런데 반원 테두리와 검은 점이 나란히 있는 이 기호는 무엇을 뜻하는 것일까? 생각을 해봤는데 역전압을 걸어준다 뭐 이런 의미의 기호일거라고 나름대로 결론을 내렸다.
⑦실험을 마치고 다른 학교
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실험치와 이론치 사이의 약간의 오차가 발생하였지만 이 실험의 전류와 전압의 관계를 통해 옴의 법칙(I = V/R)을 확인할 수 있었다. 그래프를 그려봄으로써 옴의 법칙을 좀 더 쉽게 이해할 수 있었고, 책으로만 배우던 내용을 직접 회로를 구성
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전압 특성에 대해 기술하시오.
(1)전류-전압 특성에 대하여...
실험 결과 반도체를 접합시켜서 다이오드로 만들었을때 공핍층이 형성되어 보통때는 전류를 흐르지 않는 부도체로 있다가 순방향으로 전류를 흘려주면 전자가 이동하려고 하는
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화면조정과 전원부
수직 증폭부
소인과 동기부
표준위치 조정
2. 검류계의 내부 저항 측정
다르송발계기
전류계
전압계
(1)계산을 통한 전류계의 내부 저항 측정
(2)휘트스톤 브리지를 이용한 검류계의 저항 측정
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회로를 그려라.
4. 그림 8-6의 회로에는 로 표기된 출력이 있다. 에 대한 표현식을 적고, 드모르간의 정리를 이용하여 X에 대한 표현식을 구하라.
그림 8-6
6. NAND 게이트를 사용하여 실험 순서 2에서 구한 표현식으로부터 무효 코드 검출기를 구현
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공급
- 태양광으로 발전하여 전기를 사용하고도 남는 경우에는 전력 계통에 전송 ※ 실험이론
1. 신재생에너지
2. 태양광 발전
3. 태양열 VS 태양광
4. 태양광의 특징
5. 구성
6. 태양광 발전 원리
7. 태양전지
8. 태양발전의 종류
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