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실험
*옴의 법칙, 테브난, 노오튼의 정리를 이용한 이론치 계산
1. RL1 = 1kΩ
2. RL2 = 1.5kΩ
3. RL3 = 2.2kΩ
4. RL4 = 3.3kΩ
5. RL5 = 5.6kΩ
6. RL6 = 12kΩ
7. RL7 = 27kΩ
8. RL8 = 33kΩ
9. RL9 = 47kΩ
10. RL10 = 68kΩ
4. 측정 결과(표)
5. 결론
6.실험을 마치
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회로를 구성하고 R1 R2 V1 V2를 표 8-3에 지사한 대로 바꾸어 ab양단의 전압
{V}_{ab}
를 측정하여 기록하라.
그림 8-8
출처: 두산세계대백과 EnCyber
전기용어 대사전, 전기 기술 문화사, 김만영, 1979. 8. 25.
전기 전자 공학도를 위한 기초회로실험, 이능
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따라 조금씩 부식이 일어날 수도 있기 때문에 내가 사용했던 브래드 보드 역시 이론에 가까운 완벽한 상태가 아니었을 가능성이 크기 때문에, 오차가 발생했을 가능성 또한 크다고 생각한다. 1. 회로도
2. 이론값
3. 실험결과
4. 결과분석
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회로의 개방과 단락이 가장 대표적인 회로의 고장 원인이다는 것을 조금 알 것 같다. 저항이 타버리는 경우에는 그 저항은 보통 개방되게 된다는 것을 알게 되었고, 조금 신기하기도 했다. 이 실험을 끝내고 리포트를 쓰는 와중에서 여러 응용
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95%A8%EC%88%98_%EB%B0%9C%EC%83%9D%EA%B8%B0, 위키백과, 함수발생기(Function Gernerator)
http://ko.wikipedia.org/wiki/%EC%98%A4%EC%8B%A4%EB%A1%9C%EC%8A%A4%EC%BD%94%ED%94%84m, 위키백과, 오실로스코프(CSC) 1. 이론
2. 실험회로 구성 및 방법
3. 실험결과 및 분석
4. 참고문헌
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실험결과 및 분석
-실험1
C=100 , R=10
-실험2
C=100 , R=33
-실험3
C=100 , R=100
-실험4
C=330 , R=10
-실험5
C=330 , R=33
-실험6
C=330 , R=100
<<결과>>
실험1
실험2
실험3
실험4
실험5
실험6
충전되는데 걸리는 시간의 반(초)
0.0007
0.0020
0.0062
0.0022
0.0067
0.0210
방
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6V
12.077
12.118
-0.39
입력단자와 출력단자를 바꾸는 실험에서 전압값을 각각 같은 값을 흘려주었기 때문에 출력 전류 값은 가역정리에 따르면 입력단자와 출력 단자가 바뀐 회로에서도 같은 값이 나와야 한다. 그것을 위의 실험결과를 통해서 확
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실험 중에 저항이 타는 일이 있었는데 그때문인 것 같다. 다음 실험에서는 좀 더 조심해서 실험을 해야겠다. 실험 4 : 접합 다이오드의 특성
1. 실험 목적
2. 관련이론
3. Simulation(MultiSim)
4. 실험장비 및 부품
5. 실험순서
6. 실험 결과
7.
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3. 결과분석 및 토의
(1) 결과분석
전자회로에서의 가장 기본이 되는 장치이자 이미 2주차 실험에서부터 계속 다루어 왔던 전류기와 전압기의 원리에 대하여 알아보았다. 우선 기본적인 내용은 그렇게 어렵지 않았지만 실험 내용 및 과정과
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기록된 값과 비교한다. 이들 값으로부터 회로의 어떤 부분이 잘못되었는지를 결정한다. 잘못된 부분을 찾는 과정을 기술하고, 회로를 바르게 교정한다.
과정16
VAA
VA
VB
VC
25V
25V
24.34V
12.17V
표3-3 1. 실험 목적
2. 이론 요약
3. 결과예측
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