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나노선/점, 결정립 구조, 광 밴드갭 구조의 제작, 제어, 배열을 기반으로 전자소자, 광소자, 신개념 소자 적용 등의 기술 개발
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5.나노 측정장비 및 분석 기술
집속된 고휘도 X-선, 전자선, 이온선을 이용한 나노측정의 방법론 확립과 이를 토대
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특징을 갖는 분야이다. 기업의 인력 규모가 크므로 연구개발비의 비중은 낮게 나타나지만 인력에 대한 투입 비중 및 투입 대비 성과는 높게 나타나고 있다.
(5) 나노공정, 측정, 장비산업
나노공정·측정·장비분야의 경우 반도체 소자의 미세
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FIB (Focus Ion Beam) 의 개요
Focus Ion Beam장치는 집속 빔을 시료 표면에 주사해서 발생하는 2차
이온등을 검출해서 현미경상을 관찰 또는 시료 표면을 가공하는 장치
입니다.
광원 (빛의 발생원)
Focus Ion Beam장치에서는 Ion Gun, Ion Source라고 부르는
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들의 열정을 뒷받침해줄 수 있어야 한다. 벤처직원들의 45% 이상이 기회 혹은 조건이 된다면 다른 회사로 이직하겠다는 의향을 가지고 있다는 어떤 조사를 본 적이 있다. 기업의 거의 절반에 육박하는 직원이 장기적으로 발을 붙이지 못한다
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나노계측분석연구실 연구책임자
PSIA는 원자현미경이 발명된 스탠포드대학 Quate 교수 연구실 출신이면서 PSI 창업자인 박상일 박사의 기술력을 바탕으로 국내에 설립된 회사로써, 세계최초로 차세대 원자현미경 XE-Series를 자체 개발하였다. 기
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