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공학개론, Giorgio Rizzoni지음, Mc Graw Hill 출판
-회로이론, Hayt지음, 강철호 역, Mc Graw Hill 출판
-대학 물리학, 청문각 출판 1. 실험 제목
2. 실험 목적
3. 실험 순서
4. 실험에 사용된 원리 정리
1) 디지털 논리 회로인 and, or, not, xor게이트의
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러스 15카운터 회로를 구성하라.
modulus n 카운터 의 작동
5 MODULUS COUNTER의 작동
J0=KO=Q\'3
J1=K1=Q0
J2=Q1Q0 K2=Q2
(4) 모듈러스 13 카운터 회로를 구성하라.
13진 카운터
<참고 문헌>
- 디지털 논리 회로 분석과 설계 p 481 ~
- 디지털 공학 실험
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세 번째 선택입력으로 한다.
4. 그림 13-6 회로에서 다음과 같은 상황에서는 어떤 증상이 나타날 수 있 논리 회로 간소화
- 실험목표
- 사용부품
- 이론요약
- 실험순서
- 추가조사
- 보고서 ( 데이터 및 관찰 내용, 결과및 결론 )
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디지털 고장 수리(Digital fault finding and repair)
○ 고장 수리는 틀린 회로도를 보고 동작 사항대로 동작이 되도록 틀린 곳을 고치는 것이다.
○ 납땜이나 래핑 배선 작업을 한다.
○ 고장 수리 개소는 5군데로 한다.
○ 답안지는 고장 부분, 고장 증
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게이트 회로 결선하라.
그림1-6 OR 게이트 회로 결선
(3) NOT 게이트
- 그림1-7과 같은 NOT 게이트 회로 결선하라.
그림1-7 NOT 게이트 회로 결선
5. 참고자료
① TTL응용 실무 / Don Lancaster / 한국과학원 / 1977. 6. 30 / p.37 ~ p.119
② 디지털공학실험 / 이병기
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실험에서는 드모르간의 정리를 이용하여 OR게이트를 NAND게이트로 대체시켜 회로를 구성해보는것이 첫 번째 문제해결의 요인이 었다. 드모르간 정리를 모른다면 회로를 구성할 수가 없는 실험이었다. 대신 드모르간정리를 이용하면 논리게이
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게이트 응용회로
그림5-9 2진 비교기 (Binary Comparator)
5. 참고자료
① TTL응용 실무 / Don Lancaster / 한국과학원 / 1977. 6. 30 / p.37 ~ p.119
② 디지털공학실험 / 이병기 / 喜重堂 / 1992. 2. 25 / p.17 ~ p.28
③ 디지털 시스템 / 송상훈 외7명 / 인터비젼 / 2005. 3. 28
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논리 프로브를 사용하여 회로를 테스트를 한뒤 멀티미터와 오실로스크프를 이용해 논리레벨을 알아보는 실험이다.
처음에는 쉽게 끝낼 수 있는 실험이라고 간단히 생각을 했었으나 실험을 막상해보니 처음으로 하는 디지털로직 실험에서 회
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실험회로
5. 참고자료
① TTL응용 실무 / Don Lancaster / 한국과학원 / 1977. 6. 30 / p.37 ~ p.119
② 디지털공학실험 / 이병기 / 喜重堂 / 1992. 2. 25 / p.105 ~ p.114
③ 디지털 시스템 / 송상훈 외7명 / 인터비젼 / 2005. 3. 28 / p.302 ~ p.306 1. 목적
2. 이론
3. 사
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디지털공학실험 / 이병기 / 喜重堂 / 1992. 2. 25 / p.79 ~ p.92
③ 디지털 시스템 / 송상훈 외7명 / 인터비젼 / 2005. 3. 28 / p.462~ p.473
④ http://blog.naver.com/ssss04?Redirect=Log&logNo=60012219654
⑤ http://cafe.naver.com/radioinfo.cafe?iframe_url=/ArticleRead.nhn%3Farticleid=78 1.
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