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한다. 칩자체의 문제로 인하여 측정값이 일정하게 나온 것 같다.
4. 레퍼런스
- 회로이론 / Nilsson / PEARSON / p.670∼695
- 그림으로 쉽게 배우는 회로이론 / 인터비젼 / 신융기 / p.326 ～ 327 1. 관련이론
2. 실험결과
3. 결론 및 토의
4. 레퍼런스
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실험 결과
가. 실험1
(1),(2) 단자AB에 대한 Thevenin 전압 VTH와 Thevenin 저항 RTH를 계산/측정하라.
계산된 VTH
:
4 V
계산된 RTH
:
11.33 k
측정된 VTH
:
3.99 V
측정된 RTH
:
11.3 k
를 구하기 위해 부하의 연결을 끊는다. 이 때 회로를 만들면 에는 전류가 흐르지
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회로 에 걸리는 전류 의 측정값과 계산 값을 구하고 그 오차를 구하여 표6-5에 기록하라.
[표] Norton 정리
이 론 값
3.41mA
2.86mA
2.77mA
0.40mA
(9) 표 6-4와 표 6-5를 비교하여 Norton 정리가 성립함을 증명하라. 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이
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A, B의 전압을 2V, 4V, 6V 로 변화시키면서 C, D에서의 전류를 측정한다.
(3) 그림 7-6처럼 회로를 바꾼다.
(4) 단자 C, D의 전압을 2V, 4V, 6V 로 변화시키면서 A, B에서의 전류를 측정한다. 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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과 , 또 이때의 와 양단의 전압 은 어떤 값인가?
[표 14-2]
[Ω]
[V]
[mW]
[mW]
[%]
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
10000
x + 100
x + 200
x + 300
x + 400
x + 500
x + 600
x + 700
x + 800
x + 900 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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전압을 측정하라.
(3) 그림 3-3에서 A, C, D 점의 전류를 측정하라.
(4) 그림 3-3에서 다음 값들을 표에 기록하고, B-G 간의 합성저항을 라 할 때 측정값 과 계산 값의 오차를 구하라. 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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실험 1. 멀티미터의 사용법
실험 2. 직류 전원 공급기의 사용법
실험 3. 저항의 측정
실험 4. 옴의 법칙, 키르히호프의 법칙
실험 5. 직․병렬 회로/전체 저항/분류기/분압기(배율기)
실험 6. 중첩의 원리
실험 7. 테브냉의 정리
실험 8. 노
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실험적으로 확인한다.
실험은 단일 전압원, 다중 전압원에 대해 진행된다.
2. 실험 준비물
- 멀티미터 (전류, 전압 측정) 1개
- 직류 전원 장치 (Power Supply) 1개
- 저항 : 470Ω, 1kΩ, 2kΩ, 2.2kΩ, 3kΩ 각각 1개씩, 4.7kΩ 2개
3. 기초 이론
회로
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커지고 주파수가 작아지면 커패시터의 리액턴스 값이 커져서 주파수에 따라 각각의 특성을 가지게 됩니다.
2.개요
- 실험 목적
(1)직렬 RLC회로에서 주파수 변화에 따른 임피던스와 전류의 변화를 살펴본다.
3.시뮬레이션 1. 개요
2. 내용
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회로의 전압이 완전히 0V가 되지 않아 발생한 오차이다. 그리고 두 번째로는 기기들과 회로의 정확하지 못했던 접촉 때문에 발생한 오차이다. 실험을 하면서 멀티미터로 값을 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바
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