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아이템으로는 특히 DC test와 DFT를 기반으로 하는 function test에 대한 설명 및 테스트 절차에 대하여 설명을 하였고, DC test에서 발생하는 불량의 예에 대한 설명을 첨부 하였다. 1. Purpose of IC Test
2. Electrical Test(E/L) / Final Test Items
3. Test Hardware &
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개발하도록 결합서비스를 허용해야 한다. 물론 시장지배적 사업자의 지배력이 전이되지 않도록 적절한 감시장치(Safeguards)가 필요하다. 그리고 기존 통신망과 같이 폐쇄형 네트워크가 되지 않도록 MVNO 도입도 폭 넓게 적용해야 할 것이다. 효
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