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D-LINE의 짧은 파장 쪽을 측정하는 각도와 2차 스펙트럼에서 Na D-LINE의 긴 파장 쪽을 측정하는 각도의 차가 0.1°의 차이보다 미세하다는 것은 눈으로 확인이 가능하였지만 분광계의 각도계는 0.1°이하의 미세한 각은 측정할 수 없었다. 없음
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전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
1.실험목적
2.실험 준비물
3.이론적 배경
3.1 구조-물성-프로세싱의 관계
3.2 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope: SEM)
3.3 주사전자 현미경의 작동원리
4.실험방법
4.1시험편의 준비
4.2 SEM분석
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미세구조 연구, 고려대학교 Ⅰ. 개요
Ⅱ. 레이저광의 특성
1. Laser 광의 특성
2. 반도체 Laser 광의 특성
3. 반도체 레이저의 특징
Ⅲ. 레이저광의 이용
1. 동위원소 분리에 이용
2. 핵반응 물질의 광부양
3. 원자분수시계에 이용
4. 보즈
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원자들의 배열상태
주사전자현미경의 기원
재료의 미세구조를 연구하는데 사용되는 광학현미경은 가시광선을 사용하여 영상을 형성하기 때문에 1000배 정도의 배율과 0.2 m정도의 분해능이 한계였다. 보다 미세한 구조에 대한 정확한
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전자의 위치와 운동을 정확하게 기술하는 것은 불가능하며 어느 공간에서 전자가 발견될 확률을 알 수 있을 뿐이라고 이야기한다. 그래서 이러한 확률을 계산하여 원자 내에서의 확률 분포를 구름처럼 나타내었고, 때문에 이를 전자 구름 모
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