|
(ICP-MS와 보완관계로 이용)
재료, 식품, 생체시료 및 수용액시료 중의 미량원소
무기물중의 미량 희토류 원소의 정량 Ⅰ. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
Ⅱ. X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
Ⅲ. 유도결합 플라즈마 분광기
|
- 페이지 4페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2003.10.24
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
SEM / XRD / NMR이란?
Scanning electron microscope이란?
X-Ray Diffractometer이란?
Nuclear Magnetic Resonance이란?
|
- 페이지 13페이지
- 가격 3,500원
- 등록일 2015.05.19
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
전자현미경에서의 가장 보편적인 분석장비로서 위치를 확고히 하고 있다. 이의 가장 큰 특징은 정성에서는 한 화면에 모든원소 (4Be-92U)를 스펙트럼 형태로 나타내주므로 WDS처럼 원소별로 단결정 분광기를 움직여햐하는 불편이 없고 정량면에
|
- 페이지 6페이지
- 가격 1,000원
- 등록일 2010.04.12
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
발생 장치의 작동원리
4. 연속 X선 원리
5. 특성 X-선 원리 (형광 X-선)
Ⅱ . X-선의 문화재에 대한 활용
1. X선 투과조사(X-ray Radiography)
2. X선 형광 분석
3. X선 회절분석
4. 주사전자현미경 분석
5. ICP발광분석법
Ⅲ. 결론
Ⅳ. 참고 문헌
|
- 페이지 8페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2009.03.30
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분광기(NMR), 전자현미경(SEM), X-선 회절분석기(XRD) 등 최첨단 정밀 분석기기와 고급 전문인력으로 연구활동을 지원하고 있다. 의약품의 화학구조 분석, 신소재 물성평가 등을 통하여 연구개발의 중간단계 평가, 연구개발 제품의 규격 결정 및
|
- 페이지 11페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2003.12.03
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
전자)와 4.8”(삼성전자) TFT-LCD Panel, 광학현미경, UV-VIS 분광기.
Ⅲ. TFT-array Introduction – 2주차에서는 분해할 수 있는 부품을 다 분석하였다. 이번은 그 중에서 액정이 있는 유리하판(TFT-array)와 유리상판(Color Filter)의 구성요소를 알아본다.
|
- 페이지 10페이지
- 가격 3,300원
- 등록일 2012.12.06
- 파일종류 워드(doc)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분광기
13 적외선 분광기
14 Raman Spectroscopy
15 분광측정과 상형성
16 전자 마이크로 프로브 분석과 주사 전자 현미경(SEM)
17 1X-ray 형광 분광계와 X-ray 회절
18 X-ray Imaging 기술
19 그 밖의 물리학적인 기술과 화학적인 기술
20 요약 :
|
- 페이지 19페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2004.02.25
- 파일종류 피피티(ppt)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분광기는 어떤 원리로 투과도를 측정되는가?
UV(자외선)은 보통 200~400nm인 전자기파와 VIS(가시광선)은 파장이 400~800nm정도를 이용한다. 이범위내의 파장으로 전자를 전이가 일어나 그 파장의 빛을 흡수시킨다. 흡수하는 파장으로부터 물질에
|
- 페이지 10페이지
- 가격 3,300원
- 등록일 2012.12.06
- 파일종류 워드(doc)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
분광기 6개의 Sample α-Step
Ⅳ. 실험이론 및 결과
UV-VIS 분광기는 어떤 원리로 투과도를 측정되는가?
UV(자외선)은 보통 200~400nm인 전자기파와 VIS(가시광선)은 파장이 400~800nm정도를 이용한다. 이범위내의 파장으로 전자 전이가 일어나
|
- 페이지 9페이지
- 가격 3,300원
- 등록일 2012.12.06
- 파일종류 워드(doc)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
전자부품에서 오염물 확인 등에 이용
참고 문헌 및 참고 사이트
- 기기분석의 원리, 2000, Douglas A. Skoog지음, 박기채 옮김, 자유아카데미
- 분석화학 기기분석, 2000, 최재성, 동화기술
- 기기분석(완전개정판), 1983, 이대운, 대한교과서
- http://www1.s
|
- 페이지 45페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2007.11.22
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|