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전자회로실험 제11판 예비보고서 실험3(직렬 및 병렬 다이오드 구조)
목차
1. 실험 개요
A. 실험 목적
B. 실험을 통하여 확인하고자 하는 내용
2. 이론
3. 실험 내용 및 절차
1. 실험 개요
본 실험의 목적은 직렬 및 병렬 다이오
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1. 실험 개요
- [실험11]과 [실험 12]에서는 MOSFET을 이용한 기본적인 세 가지 증폭기 중에서 공통 소오스 증폭기와 소오스 팔로워를 실험하였다. 이번에는 나머지 기본 증폭기 구조인 공통 게이트 증폭기에 대한 실험을 진행한다. 공통 게이트
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증폭기이고, 높은 전압 이득을 얻을 수 있다는 장점이 있어 널리 사용되고 있다. 이 실험에서는 공통 이미터 증폭기의 입력-출력 특성 곡선을 구하고, 소신호 등가회로의 개념을 적용하여 전압 이득을 구하고, 이를 실험에서 확인하고자 한다.
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실험에서는 Vo를 8 V로 하여 Va가 그냥 analog 값을 십진수로 표현한 값이 되도록 하였다.
4. 3비트 DAC의 입력-출력 특성 곡선을 그리시오
2 Pre-Lab(예비실험): Multisim 사용한 모의 실험(시뮬레이션)
■ 모의실험회로 1 : 연산증폭기의 A/D 변환기 회로
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1㎑, 듀티사이클 50%)인 경우, 임계감쇠가 되는 저항값을 측정하는 방법을 측정하라.
▶ 가변저항을 변화 시켜가면서 진동주파수가 가 되는점을 찾아서 DMM으로 측정한다.
[P65, (3) 임계감쇠 응답]
3.6 RLC직렬회로에서 오실로스코프의 CH1에는 입력
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병렬을 다시 직렬로 계산하면 다음과 같은 이론값이 나온다.
는 로 이론적인 계산 값이 나온다.
(330Ω)을 다시 연결한 등가회로
2.2 Thevenin 등가회로를 실험적으로 구하려고 한다. 를 구하는 실험회로를 그리고 실험절차를 설명하라. 또 전압
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f 주파수 주변의 주파수는 LPF와 HPF에 의해서 각각 걸러지게된다. 1. 실험 목적
2. 사용기기 및 부품
3. 실험 내용 및 결과
A. 공간에 존재하는 잡음
B. 전원에 존재하는 잡음
C. 잡음의 유입방지
D. 잡음의 제거
4. 연습 문제
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실험과정 9를 반복한다.
③ 바이어스된 2중 다이오드 리미터
11. 교재의 회로를 구성한다.
12~14. S1, S2를 지시에 따라 개방 혹은 단락시키며 출력 파형을 측정하고 기록한다.
15~16. VAA를 지시에 따라 증가 혹은 감소시키며 출력 파형을 측정한다.
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회로가 주어진 설계 목적을 만족하는지 살펴본다.
(5) 제어 입력에 따른 출력 회전 속도를 10회 이상 측정하고 오차를 계산한다.
[주의 : DC 모터 제어부와 측정부에 별도의 전원을 공급하는 것이 안정적인 동작을 보장함] 1. 실험 목적
2.
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없음
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