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1. 이미터 degeneration 저항을 포함하는 Common-Emitter 구조에서 다음을 구하고 PSPICE로 검증하시오.
2. Common-Base 구조에서 다음을 구하고 PSPICE로 검증하시오.
3. Common-Collector 구조에서 다음을 구하고 PSPICE로 검증하시오. 1. Common-Emitter
2. Common-Base
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차이를 보일 수 있음)
그림 4-4
Schematic
Vo
Reference
[Fundamentals of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출판부
[FLOYD 기초회로실험 제9판 - 원리와 응용]
David M. Buchla 저 | 도서출판 ITC
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실험에서는 공통 이미터 증폭기의 입력-출력 특성 곡선을 구하고, 소신호 등가회로의 개념을 적용하여 전압 이득을 구하고, 이를 실험에서 확인하고자 한다. 1.실험개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론
4. 실험 절자 및 Pspice simulation
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BJT)와 유사
○소스전압이 입력 게이트 전압과
같고위상이 동일⇒소스폴로어
○전압이득은 항상 1보다 적고,
출력전압이 소스에 있으므로
출력전압은 입력(게이트) 전압과 동상
FET의 회로구성
-참고자료-
][전자회로] #1. BJT(Bipolar Junction Transi
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전자공학 > 반도체 > 트랜지스터 > FET]
http://www.ktword.co.kr/word/abbr_view.php?m_temp1=4235&id=1341&nav=2&m_search=FET%EB%B0%94%EC%9D%B4%EC%96%B4%EC%8A%A4
[Fundamentals of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출
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