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, 10번 실험) 를 제거하자 전압이득이 현저하게 떨어지는 것을 알 수 있다. 즉 는 교류 전압이득을 저하시키지 않기 위해서 반드시 필요하다.
(2) 의 제거가 증폭기 성능에 어떤 영향을 주는가?
⇒ 는 이미터 저항으로 전류이득과 출력저항에 전
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한다.(VCC는 15V로 설정한다.)
④ oscilloscope의 CH1에는 를 CH2에는 를 연결하고 을 2mV씩 증가시키면서 전압이득(op-amp의 Gain)을 그래프를 통해 확인, 기록한다.
⑤ 이번에는 진폭은 10mV로 고정하고, 주파수를 100Hz부터 10kHz까지 적당한 간격으로 증가
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7. 지금까지 나온 결과로 이론치와 측정치를 비교 검토해 본다.
④참고문헌
http://100.naver.com/100.nhn?docid=80758
http://krdic.naver.com/detail.nhn?docid=33088700
네이버사전
브리지회로
전압강하 ①실험목적
②실험이론
③실험방법
④참고문헌
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압을 가하는 경우와 같은가?
: (-)극과 접지를 하였을 경우 전하가 외부로 모두 빠져나가 전위차가 생기지 않게 된다. 따라서 C를 구할 수 없다.
(4) 측정방법 1을 사용할 수 없는 이유
: 일반적으로 테스터의 원리는 회로를 연결하였을 때 흐르
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압 및 인덕턴스의 작용을 그래프로 관찰하고 충전용량 C와 인덕턴스 L값이 실험값과 일치하는가를 알아보는 실험이었다.
우리 조의 오차의 원인을 살펴보자면
첫째, RLC 회로를 처음 접한 우리 조는 처음 회로판을 받고 복잡해보여 많
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렬회로에서 스위치 S 를 열고 닫을때
시정수->R*C
57.전달함수-> 모든초기값 0을 한다.
58.전선굵기 선정조건
1)허용전류
2)전압강화
3)기계적강도
4)전력손실
59.전선굵기
1종접지공사:2.6mm이상
2종접지공사:고압-2.6mm이상
2종접지공사:투고압-4.
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압 v
전 류 i
이론값[V]
측정값[V]
오차율[%]
이론값[mA]
계산값[mA]
오차율[%]
R1
3.14
3.00
4.46
3.14
3.00
4.46
R2
3.92
3.76
4.08
1.96
1.88
4.08
R3
2.36
2.33
1.27
1.18
1.17
0.85
R4
1.72
1.50
12.79
3.43
3.00
12.54
R5
-1.97
-1.81
8.12
-1.97
-1.81
8.12
3. 연습 문제
(1) 실험절차 1,2,3의 결과로
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그림 1-6. 다이오드 2차 근사 해석법에 의한 등가회로
[3] 3차 근사 해석법(Third Approximation)
인가전압이 문턱전압보다 높아지면 다이오드의 전류는 급격히 증가하게 된다. 즉, 전압의 변화량에 비해 전류의 변화량이 훨씬 크다. 이는 다이오드
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전압E(V)를 가할때 Capacitor에 축적되는 전하
Q(C)와 에너지 W(J)는 다음식으로 표시된다.
Q = C X E(C) (1)
W = 0.5 X C X E2(J) (2)
즉, Capacitor는 E(V)전압에 따라 정전용량 C(F)를 갖는 것을 주기능으로 한다.
1. 유전체(Dielectric)
Capacitor의 전극간에 절연물을
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압의 수증기 속에서 표면에 얇은 산화막을 만든다.
② 표면에 감광하면 변질되는 포토 레지스트를 칠하고, 필요한 창 구멍의 패턴을 표시한 마스크를 싣고 자외선을 쬔 다음 다시 약품에서 현상 처리하여 창 구멍 부분의 실리콘 산화막을 녹
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