|
특성곡선에서 직선부의 경사도를 나타낼 때, 사용한다. 감마치는 특성곡선에서 직선부가 횡축과 이루는 각도의 tangent값으로, 노출량 증가량에 대한 농도 증가량의 비이다. 즉 위의 표에서 r = 3.25-1.25 / 비노출량의 차이, 1.6-1.3=0.3이므로, 2/0.3=6.
|
|
|
연결하고, DMM의 지시치를 기록한다.
(3) (1)과 (2)의 지시치는 각각 순방향인 경우는 0.6V, 역방향인 경오 대략 2.6V가 되어야한다. 이 수치와 현저히 다른경우는 불량인 다이오드이다.
B. DC 측정법에 의한 특성곡선 추출
(1) 1N914 다이오드를 이용하
|
|
|
특성 곡선의 실험을 직접 해보면서 전자회로시간에 배운 다이오드의 양호불량 실험과 특성곡선 그래프를 실험을 통해 그려 보았고, AC/DC 에서의 측정법에 의한 특성곡선을 추출하였을 때에도 거의동일한 모양의 특성곡선을 확인할 수 있었다
|
|
|
-소스 사이의 전압에서 드레인-소스 사이 전압의 변화가 드레인전류를 변화시키는 함수로서 이러한 곡선은 JFET드레인 특성곡선이라고 한다.
3. 그림 19-3의 곡선이 평평해지기 시작하는 점에서 구할 수 있는 것은?
(a) IDSS (b) VP (c) VGS(off) (d) 앞의
|
|
|
특성 곡선을 측정하고, 그 특성곡선을 사용해서 다이오드의 모델링 회로를 그린다.
1. 다이오드란? 무엇인가?
2. 다이오드의 양호/불량 시험
3. 다이오드 종류 및 특성
- 제너 다이오드
- Schottky Diode
- 발광 다이오드 (LED : Light Emitting Diode)
|
|
|
곡선을 통해 보면 직선부에서 농도가 올라가다가 일정한 농도를 유지하게 되는데 이부분을 dmaxfk 한다. 이것은 필름에 노출을 계속 주어도 농도의 한계는 존재한다는 것을 위미한다. 특성곡선은 아날로그 사진에 있어서 적정의 사진(노출이
|
|
|
특성곡선
Ⅰ. 검사특성곡선의 의의
Ⅱ. 검사특성곡선의 결정요인
Ⅲ. 검사특성곡선의 성질
1. 샘플의 크기 n이 변하는 경우(N, C는 일정)
2. 허용불량수 가 변하는 경우(n, N은 일정)
3. 로트의 크기 N이 변하는 경우(n, c는 일정)
Ⅳ. 평
|
|
|
특성곡선 (IB = 100uA)
※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 150uA)
※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 200uA)
※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 250uA)
※ VCE 대 IC 특성곡선 (IB = 300uA)
※ 실험 결과 설명
- IB가 각각 100, 150, 200, 250, 300이 되도록 VBB를 조정하였다. 위 사진은 그때의 각
|
|
|
과
1.diode 특성 측정
1)
2)회로 구성
다이오드 전류(전체전류)
VD
0
0~0.4
0.444
0.514
0.552
0.606
0.648
0.699
0.75
0.795
ID
0
0
0.04
0.19
0.43
1.35
3.4
10.55
36.7
124.8
2.LED의 구동
*실험
①
②
Vs
VP
VRS
IP
5.6V
2.224V
3.394V
18.76mA
결론
Diode 특성 곡선 실험을 통해서 0.7V에서
|
|
|
< 감광학 실험 보고서 >
1. 실험 제목 : 특성곡선 이론과 작성법
2. 실험 기구 및 재료 : 곡선자, 농도표, Graph Paper, 삼색 볼펜,
샤프, 지우개
3. 실험 방법
① 농도표 확인한다
|
|
메뉴펼치기
