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논문
2건
[논문] ReRAM & 비휘발성 메모리
열처리를 한 후 I-V를 측정하였다. NiO의 밴드갭이 3.7~3.9eV 로 거의 부도체와 같다. 특정 전압 이상에서 갑자기 전류가 흐르는 forming 과정이 발생하고 forming과정 이 끝나게 되면 전류는 전압의 따라 증가하게 된다. 그러다 전류가 급격히 감소하
ReRAM|비휘발성 메모리|memory|PRAM|PoRAM|MRAM|supper
,
ReRAM & 비휘발성 메모리
,
페이지
13페이지
가격
2,000원
발행일
2009.06.15
파일종류
한글(hwp)
발행기관
저자
[논문] 상 압 Plasma를 통한 PC 표면처리
메탈 소재와 달리 PC 제품은 Plasma에 의한 피도 물의 영향이 도장 시 leveling 형성에 크게 작용 하므로 Plasma 공급의 안정성과 균일 성이 매우 중요 합니다. 하지만 테스트에 있어서 안정성이 부족하며 현재 수준에 있어서 생산 라인의 조건과 환
플라즈마|코팅|열처리
,
상 압 Plasma를 통한 PC 표면처리
,
페이지
8페이지
가격
49,500원
발행일
2012.07.13
파일종류
피피티(ppt)
발행기관
저자
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