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사전자현미경(SEM)의 배율 및 분해능
1) 배율
주사전자현미경의 배율은 편향코일에서 주사하는 각도에 따른 면적대비 음극관(CRT, 요즘은 PC 모니터)의 면적비율이다. 즉, 편향코일의 각도에 따라서 저배율에서 고배율을 선택할 수 있다. 편향각
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현미경의 종류
1) 광학현미경
* 일반광학현미경
* 위상차현미경
* 간섭현미경
* 암시야현미경
* 편광현미경
* 형광현미경
2) 전자현미경
* 주사전자현미경(SEM)
* 투과전자현미경(TEM)
3) 원자현미경
2. 주
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이다.]
◎ 결론 및 반성 :
- 전자현미경에는 크게 주사전자현미경(SEM : Scanning Electron Microscope)와 투과전자현미경(TEM : Transmission Electron Microscope)가 있다.
- 전자현미경은 광학현미경과는 달리 전자선을 이용하여 물질을 관찰한다.
- 전자현미경의
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□ 실험목적
□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● 전자현미경의 발전역사
● 기본 원리
● TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사
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1. SEM이란?
Scanning Electron Microscope
1.1. SEM의 개발
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1931년 독일
Max Knoll & Ernst Ruska, 최초 전자현미경(TEM) 발명
1938년 M.V.Ardennes, 최초 주사전자현미경 개발(STEM)
1962년
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전자선으로 물체를 관찰할 수 있는 장치를 만들어 냈고, 이를 전자현미경이라고 명명하였다. 그러나 최초의 전자 현미경은 전자총과 2개의 전자 렌즈로 되어 있고, 가속 전압은 50 kV이며 배율은 13~17배밖에 되지 않았다. 이러한 배율은 성능이
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현미경 발명
➢ 크게 전자현미경과 광학현미경으로 분류
현미경의 종류와 사용법
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전자현미경사진은 배율보다 "크기자(scale bar)"를 더 선호한다.
2. 분해능
현미경의 분해능을 가까운 두 점과의 거리 혹은 두선 간의 거리를 구분할 수 있는 최소의 거리라고 정의한다. 주사전자현미경은 대물렌즈로 주사전자광선(scanning electron
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전자비임이 니켈(z=28)시편의 표면과 직각인 방향으로 20,000V (20kV)로 입사될 때, 상호작용하는 부피를 나타낸 것이다.
이러한 상호작용 및 그 결과가 탐지되고 이미지로서 스크린, CRT, 혹은 필름에 기록된다.
위의 단계들은 전자현미경의 종류
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전자현미경의 관찰에 의하면 파단면 상에 형성된 미세한 소성변형의 딤플이 관찰되고 이로 인하여 S45C강의 파손이 연성파괴임이 입증된다.
Fig.7은 S45C강의 충격실험 후 파단면을 보여주는 것으로서 충격실험의 높은 변형속도에서 파단면에
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