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현미경의 종류
1) 광학현미경
* 일반광학현미경
* 위상차현미경
* 간섭현미경
* 암시야현미경
* 편광현미경
* 형광현미경
2) 전자현미경
* 주사전자현미경(SEM)
* 투과전자현미경(TEM)
3) 원자현미경
2. 주
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전자선을 광원으로 사용하는 전자현미경이 개발되었다.
기술이 진보함에 따라 마이크론 크기나 그 이하 크기의 시료에 대한 관찰과 분석을 통한 정확한 이해가 필요하게 되었다. 주사전자현미경(SEM)은 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰
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전자 신호만으로 상
형성이 되는 것이 아니고, 시료 내부의 정보를 가진 전자도 포함되어 있다. 또한 파장이 짧
은 전자선을 이용하였기 때문에 광학 현미경에 비해서 훨씬 높은 배율의 측정이 가능하다.
3. Reference
주사전자현미경(SEM) 개론,
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SEM은 depth of field가 대단히 깊어서 높낮이가 큰 대상물을 관찰할 수 있다. Depth of field뒤에 나올 슬라이드에서 설명하겠지만 간단히 말하면 관찰 대상물의 확대 영상에서 초점이 맞는 깊이 범위를 말한다. 즉, 주사전자현미경에서의 depth of field
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대해서는 관찰이 불가능하다. 이러한 한계를 극복하기위해 전자선을 광원으로 사용하는 전자현미경이 개발되었다. 이러한 주사전자현미경(Scannning Electron Microscope : SEM)은 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰하는 데에 가장 다양하게 쓰이
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