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저항때문인 것으로 추정하였다. 또 전류의 경우에는 계측기 내에서 발생하는 저항이 회로에있는 저항 R이 작용하여 회로에 흐르는 전류가 낮아졌기 때문에 오차가 발생한다. 또, 전선이 피복으로 덮여있지않고 외부에 노출되어있기 때문에
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회로에 흐르는 전류의 차이가 거의 없었다. 그리고 등가회로의 저항이 부하저항보다 20배 이상 크므로 정전류원으로 볼 수 있다.
4. 참고문헌
전자통신연구회 편, 『전자통신기초실험』, 도서출판 상학당, 2009, pp74-75. 1. 노튼의 정리
2. 검
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회로를 공통-이미터(common-emitter) 또는 접지된 이미터 증폭기라고 부른다.
공통 이미터 증폭기는 다른 증폭기 구조에 비해 중간 정도의 입력 저항, 큰 전압 이득, 큰 전류 이득, 그리고 큰 출력 저항을 가지며, 다단 증폭기에서 주로 중간 증폭단
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회로에 흐르는 전류는 아래와 같이 나타난다.
발전기에서 공급하는 회로의 입력전압을 라 하면 [그림 5]와 같이 전압법칙을 적용하면 다음과 같은 식이 성립한다.
이때 의 식이 성립하므로 식은 아래와 같이 나타낼 수 있다.
[그림 6]은 저항에
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회로이다.
저항이 높으면 전류가 거의 흐르지 않아 개방회로가 된다.
∴ 낮은 ㏀ 범위에서 저항이 직렬로 나타난다면 충분히 큰 저항레벨은 개방회로로
볼 수 있다. 1. 실험 목적
2. 실험 장비
3. 이론 개요
4. 실험 순서
(1) 다이오드
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측정할 수 있다.
6. 참고문헌
- 기초전자실험 with PSpice
P.179-203 1. 실험 목표
2. 관련이론
2-1 기초 이론
2-2 소개
3. PSpice 시뮬레이션
3-1 PSpice 시뮬레이션 결과
3-2 실험
3-3 결과 검토
4. 느낀점
5. 유의사항
6. 참고문헌
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회로의 등가저항값과 (7)～(8)의 과정에서 얻은 실험치를 비교한다. 1. 이 실험의 목적은 무엇인가?
2. 측정치의 계산에 이용되는 관계식들을 기본 이론에서 찾아 각각의 물리적 의미를 설명하시오.
3. 참고 문헌
4. 기구 및 장치
5. 본 실험
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= sin (@-180)입니다.
< 미분기 회로 >
< 미분기 동작 파형 >
3. 미분기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
회로도 -
시뮬레이션 결과 값: Run to Time :5ms 1. 실험 목적
2. 관련 이론
3. 미분기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
4. 시뮬레이션 결과
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회로이므로 이론적으로는 동일하게 작용한다고 계산하는 것이라고 생각했다. 저항값이 작아져서 전류조건을 만족하지 못하게 된다면 저항에 과전류가 흐르게 되고 그로 인하여 저항이 고장나게되고 저항부분이 short가 될 것이라고 판단된다
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저항의 크기의 기울기를 구하는 것이 보다 쉽게 파악할 수 있었을 것이라는 아쉬움이 남는다. 더불어 실험상에서 전압과 저항의 비를 통하여 전류의 측정값과 이론값의 오차가 발생되었다 이 오차의 원인으로는 우선, 회로판의 저항을 들 수
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