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SEM
Conforcal
SPM(AFM)
측 정 환 경
대기중
진공
대기중
대기중, 용액내, 진공
시 료
액체
고체
액체, 고체
액체, 고체
x, y 축 분해능
z 축 분해능
1.0㎛, 1.0㎛
0
5nm, 5nm
0
170nm
500nm
0.1nm
0.01nm
배 율
1 2x103배
10 106배
10 104배
25 108배
시료 전처리
간단한 전처
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STM(scanning tunneling microscope)
• AFM(atomic force microscope) The tools for atoms and molecules
SEM(scanning electron microscope)
FESEM(field emission scanning electron microscope)
TEM(transmission electron microscope)
STM(scanning tunneling microscope)
AFM(atomic forc
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AFM, Atomic Force Microscope)
*주사전자현미경*
1. 현미경의 조직검사
2. 시료의 준비
3. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
4. 주사전자현미경의 개요
5. 주사전자현미경의 역사
6.주사전자현미경의 원리
7. SEM의 기본적 구조 및 기능
8.
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AFM 그리고 FE-SEM을 통해 나노입자의 분산 정도를 알 수 있다. 뭉쳐있는 경우 소자 특성을 저해할 수 있는 요소로 예측할 수 있다. 반면 coupling agent로 표면처리가 잘되어있는 Al₂O₃나노 입자를 이용하면 많은 장점을 가 질수 있다. 또한 높은 유
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카바이드(SiC) 나노꽃
나노스케일로 제작된 Solar Cell SEM사진
8개의 CdTe 분자의 AFM 이미지
카본나노파이버 성장잠에서의 나노꽃 나노 재료 구조 분석 정의
나노 재료 구조 분석 기술
국내외 기술 동향
시장 분석
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AFM이다.
SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. 광학현미경의 배율이 최고 수천 배 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의
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소재공학실험2
1. AFM - 원리, contact, Noncontact, Tapping mode
ft-ir 원리 목적
utm에 대하여 조사
2. FTIR - 원리 보강/상홰 간섭 등
3. SEM(주사전자현미경) 원리
4. PBF 프린팅
5. 분말 시험
6. 주조 정의 및 종류, 그리고 주형 재료(사형주조, 금형 주조 등등)
(
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AFM)을 사용한다. 이 두 가지 현미경 및 이들의 원리를 응용한 현미경을 통틀어 ‘주사형 프로브(probe) 현미경’이라 한다.
nm의 세계를 관측하기 위해 만들어진 주사형 터널 현미경은 실험 중 우연히 탐침으로 원자덩어리를 튀겨 내거나 갖다
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electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force microscopy
4. Scattering : 고분자 내부 구조 분석
- Scattering method (산란법)
① light scattering
② x-ray scattering (단파장)
③ neutron scattering
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(EM,Electron Microscope)
ㄱ. 주사형 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscope)
ㄴ. 투과형 전자현미경 (TEM, transmission electron microscope)
(3) 원자현미경 (AFM,Atomic Force Microscope)
3. Material & Method
4. Result
5. Discussion
6. Reference
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