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TEM, Transmission Electron Microscopy) : 한국뇌연구원, 투과전자
현미경 교육, https://www.kbri.re.kr/new/pages/sub/0746_view.html?no=21880
[2] Fig.5 주사 전자 현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3]
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TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사전자현미경(SEM)의 구성
● SEM의 분해능(resolution)
● SEM의 영상의 종류
● SEM의 배율과 초점심도
● 전자빔과 시편과의 상호작용
● 투과전자현미경(Transmision Electron Microscopy)
● 광학
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tem.html
○ http://plaza.snu.ac.kr/~jsjang/content/instruments[tem].htm
○ http://cc.kangwon.ac.kr/~itnam/lecture/microscopy/tem.html
○ http://library.kriss.re.kr/msjournal/1998/212/21202.html
○ http://www.bioem.com/inc/lecture.php
○ http://www.icomm.re.kr/~esbyon/work/sem/chap2.html
○ http://bioem.co
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Dispersive X-ray Microanalysis)를 이용한 원소 분석.
2.6. 전자빔과 고분자소재와의 상호작용
2.7. 주사전자현미경 분석을 위한 시료 준비법
3. Transmission Electron Microscopy (TEM)
3.1. TEM의 기본 원리
3.2. TEM의 콘트라스트
3.3. 진폭 콘트라스트 증대방법
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Electron Microscopy)
이론
TEM (투과전자현미경・Transmission Electron Microscopy)
원리
구조
SEM, TEM 비교
AE(ACOUSTIC EMISSION)
원리
AE 검출법의 장점
활용
EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)
원리와 구성
* EPMA의 특징
출처
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TEM용과 SEM용을 구별하여 준비
✡✡ 조직 접수
✡ 투과전자현미경 (TEM : transmission electron microscopy)
- 목적 : 조직의 단면의 변화를 보기 위한 현미경
1. 고정
2. 탈수
3. 치환
4. 침투 및 포매
5. 중합
6. 박절
7. 일반 전자염색 (r
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microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, transmission electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force microscopy
4. Scattering : 고분자 내부 구조 분석
- Scattering method (산란법)
① light scattering
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TEM : Transmission Electron Microscopy)
매우 얇은 표본을 만들어 현미경으로 virus 입자를 확인하는 방법이다. 이 방법은 바이러스 입자의 구조나 형태 등을 상세하게 관찰할 수 있어 바이러스 진단에 매우 유용하다.
⑤ 면역전자현미경법(ISEM: Immunosorben
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℃~350 ℃에서 마이크로구조를 형성하기 위해 담금질되어졌고 Focus ion beam (FIB SEM) 와 transmission electron microscopy (TEM)는 필름의 특징적인 결정크기를 만들어내기 위해 사용 되어졌다. 응력-변형률 곡선, 영률, 인장강도와 같은 기계적 움직임에 의
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TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
광학현미경의 광원 대신에 광원과 유사한 성질을 지닌 전자선과 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. 전자선은 광선과 비교하면 물질과의 상호작용
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